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專家精講:功率器件氮化鎵的發(fā)展趨勢及應(yīng)用

發(fā)布時間:2015-05-29 責任編輯:sherry

【導(dǎo)讀】工程師福音,全新領(lǐng)域的功率器件氮化鎵,電阻方面可實現(xiàn)更高的輸出電流,并且不會增加元件的數(shù)量、成本及復(fù)雜性并降低功率密度,是不是很炫?到底是如何實現(xiàn)的,將來如何發(fā)展?看本文詳解!
 
與硅器件相比,由于氮化鎵的晶體具備更強的化學鍵,因此它可以承受比硅器件高出很多倍的電場而不會崩潰。這意味我們可以把晶體管的各個電端子之間的距離縮短十倍。這樣可以實現(xiàn)更低的電阻損耗,以及電子具備更短的轉(zhuǎn)換時間。總的來說,氮化鎵器件具備更快速的開關(guān)、更低的功率損耗及更低的成本優(yōu)勢。
性能優(yōu)越
 
優(yōu)越的功率器件必需具備以下6個特性:1)器件需要具備更低的傳導(dǎo)損耗、更低的阻抗;2)開關(guān)必需更快速并在硬開關(guān)應(yīng)用中如降壓轉(zhuǎn)換器具備更低的損耗;3)更低的電容、更少充電及放電損耗;4)驅(qū)動器使用更少功率;5)器件更細小(縮小占板面積)及6)因為需要更高輸出電流和功率密度而需要更低的熱阻。
 
我們?yōu)楣こ處煄砜芍С忠庀氩坏降娜骂I(lǐng)域的功率器件。在電阻方面,之前我們在DC/DC轉(zhuǎn)換器并聯(lián)氮化鎵場效應(yīng)晶體管(eGaN FET)從而實現(xiàn)更高的輸出電流??墒牵@會增加元件的數(shù)量、成本及復(fù)雜性并降低功率密度。與第二代氮化鎵器件相比,第四代eGaN FET可以大大降低阻抗,從而使得基于eGaN FET 的DC/DC轉(zhuǎn)換器具備更大電流及高功率密度。如圖1所示,采用第四代30 V 的eGaN FET的轉(zhuǎn)換器的阻抗只是1 mΩ,即降低了阻抗達2.6倍。如果采用第四代100 V的eGaN FET,與第二代100 V的器件相比,阻抗只有2.4 mΩ,即降低了阻抗達2.3倍。
第二代及第四代氮化鎵器件的阻抗的比較
圖1:第二代及第四代氮化鎵器件的阻抗的比較。
 
Drain to source:漏源電壓
 
此外,與等效的先進硅功率MOSFET相比,第四代eGaN FET減少硬開關(guān)FOM達5倍(200 V器件)、 8倍( 100 V器件)及 4.8倍(40 V器件),見圖2。
第二代及第四代氮化鎵器件的硬開關(guān)FOM并與硅功率MOSFET的比較
圖2:第二代及第四代氮化鎵器件的硬開關(guān)FOM并與硅功率MOSFET的比較。
 
至于封裝方面,eGaN FET如果使用MOSFET的傳統(tǒng)封裝不會比MOSFET更好。如果使用芯片規(guī)模封裝,結(jié)果卻截然不同。圖3是在PCB板上的一個典型晶體管的截面圖。熱量主要從兩個途徑散出:從焊錫接面散進PCB板(如RθJB展示)或從晶體的背部散出(RθJC),之后,外殼至環(huán)境的熱阻(RθCA)及電路板至環(huán)境的熱阻(RθBA)將影響散熱效率。雖然eGaN FET比先進的硅MOSFET的體積更小,使得熱阻相對于可散熱的面積來說應(yīng)該增加了。然而,eGaN FET的封裝具備超低的結(jié)點至電路板熱阻(RθJB)并與MOSFET的封裝的熱阻相等。
氮化鎵器件的散熱效率。
圖3:氮化鎵器件的散熱效率。
 
Silicon Substrate:硅襯底
 
Active GaN Device Region:活躍氮化鎵器件區(qū)域
 
最重要的是,eGaN FET可以雙面散熱從而可以進一步提高其散熱效率。至于從結(jié)點至外殼(RθJC)的熱阻,除了30 V的MOSFET具有與eGaN FET可比的熱阻外,在更高壓時,eGaN FET具備無可匹敵的散熱性能。
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電源轉(zhuǎn)換系統(tǒng)可提高效率
 
圖4展示了eGaN FET與先進硅MOSFET模塊相比較的電源轉(zhuǎn)換效率,從實驗結(jié)果可以看到,eGaN FET 12 V轉(zhuǎn)1.2 V、40 A的負載點轉(zhuǎn)換器工作在1MHz開關(guān)頻率時可實現(xiàn)超過91.5% 效率。此外,一個采用eGaN FET的器件、48 V 轉(zhuǎn)12 V、 40 A的硬開關(guān)降壓轉(zhuǎn)換器而成為一個非隔離型DC/DC中間總線轉(zhuǎn)換器工作在300 kHz的頻率時可以實現(xiàn)超過98%的效率(圖5)。
氮化鎵器件可以提高DC/DC轉(zhuǎn)換效率
圖4:氮化鎵器件可以提高DC/DC轉(zhuǎn)換效率。
eGaN FET在更高壓的DC/DC轉(zhuǎn)換器可以提高效率。
圖5:eGaN FET在更高壓的DC/DC轉(zhuǎn)換器可以提高效率。
 
MOSFET Module:MOSFET 模組
 
Loss Reduction:損耗降低
 
Output Current:輸出電流
 
Efficiency:效率
 
業(yè)界首個氮化鎵IC
 
由于減少了需要互相連接2個分立式晶體管的板位,單片式半橋器件IC系列(EPC2100)可縮小占板面積大約 30%,從而縮小整體的系統(tǒng)尺寸,而且,因為速度增加了,因此可以去除功率環(huán)路電感。在1 MHz的工作頻率下,分立式FET在更大電流下更具優(yōu)勢,這是由于下面的分立式FET具備更低的導(dǎo)通損耗??墒?,在4 MHz時,單片式eGaN FET比分立式FET的性能優(yōu)越很多,這是因為減小了寄生電感,改善了版圖及技術(shù)(圖6)。我們也可以利用更高壓的單片式半橋eGaN FET(例如80 V 的EPC2105)高效地實現(xiàn)從48 V轉(zhuǎn)至1 V的單級轉(zhuǎn)換。
工作在4 MHz頻率的單片式半橋IC比分立式器件的性能更為優(yōu)越
圖6:工作在4 MHz頻率的單片式半橋IC比分立式器件的性能更為優(yōu)越。
 
Output Current:輸出電流
 
Efficiency:效率
 
33% die size reduction:減小了33%的裸片面積
 
Discrete Transistors:分立式晶體管
 
滲透進廣泛的應(yīng)用中
 
目前已經(jīng)有很多應(yīng)用使用eGaN FET或利用它開發(fā)全新應(yīng)用。有四種應(yīng)用已經(jīng)占去潛在市場的一半份額:無線電源傳送、LiDAR、包絡(luò)跟蹤及DC/DC 1/8磚式轉(zhuǎn)換器應(yīng)用。
 
無線電源傳送
 
全球無線充電市場估計在2018年達100億美元,CAGR達42.6%!無線電源傳送應(yīng)用采用的標準頻率為6.78 MHz,這是由于可用薄薄的線圈及屏蔽。MOSFET在這頻率下并不高效,eGaN FET則是這個應(yīng)用的理想器件。業(yè)界領(lǐng)袖包括Qualcomm、Intel、Broadcom、Samsung、Deutche Telecom、Delphi及Witricity組成一個聯(lián)盟(A4WP),利用由MIT隊伍開發(fā)的高度諧振無線電源技術(shù),發(fā)展高頻無線功率傳送標準(6.78 MHz)并把它商用化。目前使用的無線電源傳送的應(yīng)用包括移動電話、游戲控制器、手提電腦、平板電腦、醫(yī)療用的植入式儀器及電動汽車。
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光學遙感技術(shù)
 
光學遙感技術(shù) (LiDAR)使用鐳射脈沖快速形成三維圖像或為周圍環(huán)境制作電子地圖。該技術(shù)可實現(xiàn)高準確性、覆蓋更遼闊幅員及加快收集數(shù)據(jù)的速度及提高效率,其傳統(tǒng)應(yīng)用包括繪制地圖、海岸線管理、地質(zhì)測量、氣象學及探索自然資源等應(yīng)用。相比日益老化的MOSFET器件,目前氮化鎵場效應(yīng)晶體管的開關(guān)速度快十倍,使得LiDAR系統(tǒng)具備優(yōu)越的解像度及更快速反應(yīng)時間等優(yōu)勢,由于可實現(xiàn)優(yōu)越的開關(guān)轉(zhuǎn)換,因此可推動更高準確性。這些性能推動全新及更廣闊的LiDAR應(yīng)用領(lǐng)域的出現(xiàn)包括支持電玩應(yīng)用的偵測實時動作、以手勢驅(qū)動指令的計算機及自動駕駛汽車等應(yīng)用(圖8)。
采用LiDAR技術(shù)的應(yīng)用
圖8:采用LiDAR技術(shù)的應(yīng)用。
 
包絡(luò)跟蹤
 
當無線傳送的數(shù)據(jù)日益增加,我們需要先進技術(shù)把更多的數(shù)據(jù)bits放進每一個射頻頻道。這種技術(shù)提高功率放大器的峰值/平均功率的比率(PAPR)。包絡(luò)跟蹤技術(shù)可以在具有高PAPR比率的系統(tǒng)內(nèi)使功率放大器實現(xiàn)最高效率。在一個使用包絡(luò)跟蹤的系統(tǒng)內(nèi),一個高頻DC/DC包絡(luò)跟蹤轉(zhuǎn)換器替代電池或靜態(tài)DC/DC轉(zhuǎn)換器,從而追蹤包絡(luò)信號,為功率放大器提供所需電壓,可提高系統(tǒng)效率高達一倍。實現(xiàn)包絡(luò)跟蹤有很多不同方法但目的相同 -- 使得功率轉(zhuǎn)換器可以在超高頻下工作,例如需要20 MHz頻帶才可以高效地追蹤3G信號(圖9)。
包絡(luò)跟蹤應(yīng)用
圖9:包絡(luò)跟蹤應(yīng)用。
 
隔離式1/8磚式轉(zhuǎn)換器
 
eGaN FET比先進的硅基MOSFET器件更細且更高效。為了展示它如何實現(xiàn)更高功率密度、更低成本及更高效,我們設(shè)計一個全穩(wěn)壓型、隔離式1/8磚式轉(zhuǎn)換器。 該設(shè)計是一個基于氮化鎵器件、傳統(tǒng)硬開關(guān)、全穩(wěn)壓型、使用中央抽頭次級線圈的全橋式轉(zhuǎn)換器。最好的全穩(wěn)壓型1/8磚式的輸出功率為300 W,在滿載條件下的效率大約是94.7%。 采用eGaN FET的設(shè)計,我們在500 W可實現(xiàn)的滿載條件下的效率為96.5%。在氣流為400 LFM時,板上最高溫度只是100°C,這是變壓器。eGaN FET在500 W輸出功率時的溫度為91°C或更低(圖10)。
500 W、1/8磚式轉(zhuǎn)換器的效率。
圖10:500 W、1/8磚式轉(zhuǎn)換器的效率。
 
硅以外的氮化鎵新時代
 
氮化鎵器件可以改善其他應(yīng)用包括提高MRI成像系統(tǒng)的解像度、使得D類音頻放大器的成本更低而同時音質(zhì)可以更高(因為eGaN FET具備快速開關(guān)的性能)、更節(jié)能的LED照明系統(tǒng)及更輕盈、快速操作的機器人。
 
當?shù)壠骷M入硅器件的領(lǐng)域之同時,eGaN技術(shù)發(fā)展迅猛,可滿足工程師的設(shè)計需要,提供更高效及性能更優(yōu)越的器件。該技術(shù)被證明為具備優(yōu)越的散熱效率及高可靠性。價格是封阻可替代硅MOSFET器件的氮化鎵晶體管的普及化的最后一個壁壘,而目前價格也已經(jīng)下降。氮化鎵器件的性能及更低的成本實現(xiàn)了以前不可能成真的趨勢及應(yīng)用,為半導(dǎo)體業(yè)界續(xù)寫摩爾定律的輝煌。
 
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