通常，測(cè)量頻率僅為方便測(cè)量而規(guī)定。如果測(cè)量頻率不是電路（或“使用”）頻率，測(cè)試結(jié)果一般不能夠取得與指定電路相同的電感值或展示相同的效率。鑒于設(shè)備和方法最近得到了發(fā)展并且現(xiàn)在能夠靈活地選擇測(cè)試頻率，應(yīng)該在實(shí)際的使用頻率下去測(cè)試電感，尤其是當(dāng)有高精度的要求時(shí)。

 

電感參數(shù)

 

一個(gè)線圈的主要電氣參數(shù)是電感、Q（效率）、直流電阻（DCR）和自諧頻率（SRF）。所有主要電氣參數(shù)由設(shè)計(jì)控制，雖然不是完全地。電感和Q經(jīng)常在很大程度上受所使用的測(cè)試儀表和測(cè)試頻率的影響。

 

 

Q是元件儲(chǔ)存能量同損耗能量之比。Q反映電感的能量?jī)?chǔ)存能力，它與測(cè)量頻率成正比，與相同頻率下元件產(chǎn)生的電阻（銅線和鐵芯）損耗成反比。

 

DCR是電感在通上不變的直流電時(shí)，電感中的銅線對(duì)電流的阻力。DCR讓我們了解因電感加入到電路而在電路中發(fā)生的插入損耗。DCR還說(shuō)明僅僅是在發(fā)熱的情況下電感會(huì)消耗多少能量。

 

當(dāng)頻率超過SRF時(shí)，元件的作用就不再是電感。SRF由（低頻）電感和線圈的匝間有效電容的并聯(lián)組合決定。

 

測(cè)試設(shè)備

 

測(cè)試方法的適當(dāng)選取在很大程度上決定測(cè)量的準(zhǔn)確度。不同的電氣參數(shù)所使用的測(cè)試儀和測(cè)試方法不同，并且每臺(tái)儀表都有量程、頻率和誤差。寄生效應(yīng)和測(cè)試夾具的影響是測(cè)量中不可忽視的因素。一般情況下必須對(duì)儀表、夾具、頻率和電流（如適用）進(jìn)行規(guī)定以實(shí)現(xiàn)可重復(fù)和可靠的測(cè)試。

 

阻抗分析儀一般用于測(cè)量電感元件的電感和Q。一直以來(lái)也有人使用網(wǎng)絡(luò)分析儀來(lái)測(cè)量Q?？梢杂昧阆辔环ㄔ诰W(wǎng)絡(luò)分析儀上測(cè)量SRF。DCR通常用低電阻表測(cè)量。

 

測(cè)試儀的選擇還影響測(cè)量值。儀表的影響是因每臺(tái)設(shè)備使用不同的測(cè)量方法和頻率而造成的。

 

部份的差異可歸因于不同的儀表，但主要是由于不同的頻率?？傊?，正確的儀表應(yīng)該是能夠在所要求的頻率下進(jìn)行準(zhǔn)確和可重復(fù)性測(cè)試的儀表。

 

測(cè)定電感的傳統(tǒng)方法

 

幾十年來(lái)，Q表是測(cè)定L和Q參數(shù)值的傳統(tǒng)方法。然而，Q表要求測(cè)試頻率在其振蕩器的范圍內(nèi)和調(diào)諧電容器的極限范圍內(nèi)。同時(shí)，Q表測(cè)量的電感是以電容（pF）來(lái)表示的。Q表也有比中頻更易于使用的特定頻率（稱為藍(lán)線），因?yàn)檎{(diào)諧電容器上的附加刻度盤能夠直讀電感。

 

市面上供應(yīng)的Q表的精確度為3%甚至更低。Q表誤差需要使用設(shè)定“標(biāo)準(zhǔn)件”（被確定為有特定和精確值的高精度元件）。校正件如同供應(yīng)商和用戶確定的有特值的標(biāo)準(zhǔn)。校正件被視為特定的標(biāo)準(zhǔn)元件，并且在每次測(cè)試時(shí)用來(lái)設(shè)置每臺(tái)儀表。校正仍然是最精確的方法，此方法誤差小，可重復(fù)性高，并且在任何頻率下都適用。然而，校正方法存在嚴(yán)重的后勤缺陷：制造商和客戶之間對(duì)校正件的制定和計(jì)量，和每次測(cè)試調(diào)試儀表的工作。

 

其他電氣參數(shù)SRF和DCR一般是根據(jù)L和Q來(lái)規(guī)定的，對(duì)其使用的測(cè)試方法卻很少有說(shuō)明。缺少SRF和DCR的具體測(cè)試方法表明電感是主要參數(shù)并且需要謹(jǐn)慎控制。

 

 

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