在應(yīng)用頻率下測(cè)試電感(二)
發(fā)布時(shí)間:2019-12-11 責(zé)任編輯:wenwei
【導(dǎo)讀】在上一篇文章“在應(yīng)用頻率下測(cè)試電感(一)”中,我們介紹了電感參數(shù)和測(cè)定電感的傳統(tǒng)方法。在本文,我們將介紹電感和頻率的關(guān)系,以及確定應(yīng)用頻率下電感測(cè)試的內(nèi)容。
應(yīng)用頻率測(cè)試
傳統(tǒng)測(cè)試方法的基本困難在于,線圈在一個(gè)頻率下測(cè)試,又在另一個(gè)頻率下使用。圖1和圖2顯示了傳統(tǒng)測(cè)試方法的基本問題。
電感與頻率
圖1顯示三個(gè)不同電感的電感值和頻率的對(duì)數(shù)掃描。當(dāng)這些產(chǎn)品在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)頻率下測(cè)試時(shí),它們的電感值看起來相同。在實(shí)際的電路頻率下,這些線圈卻大不相同。這三個(gè)線圈可以代表三種不同的設(shè)計(jì)或相同設(shè)計(jì)的三個(gè)不同線圈。如果使用頻率就在三個(gè)電感聚合的點(diǎn)上,那么這些線圈是等效的。如果電路頻率與測(cè)試頻率大不相同,那么測(cè)試頻率下的電感一般不能夠表示使用頻率的電感。
即使這些線圈沒有相互偏離,電感值仍然會(huì)改變。當(dāng)設(shè)計(jì)要求一個(gè)特定的電感值,而特定線圈未能達(dá)到預(yù)期值時(shí),電感隨頻率改變而產(chǎn)生的結(jié)果就此體現(xiàn)出來。這一改變通常是由夾具的不同和電路寄生效應(yīng)引起的,從而特定值也會(huì)相應(yīng)的抵消。
圖1:三個(gè)不同的電感,電感值隨頻率變化而變化
圖2顯示在測(cè)試頻率和應(yīng)用頻率下測(cè)試的另一個(gè)結(jié)果。它顯示了一特定線圈的電感精度隨頻率變化的情況。兩個(gè)頻率下的標(biāo)稱電感值及其公差都有顯示。如果該線圈在測(cè)試頻率下的公差為5%,那么在應(yīng)用頻率下的公差則可能為10%。這些公差限額隨頻率而縮小或擴(kuò)大,取決于線圈的設(shè)計(jì)。公差限額的不恒定這一事實(shí)導(dǎo)致精度隨頻率變化而失去控制。
圖2:電感的精度隨頻率變化而變化
在任何情況下,電感是隨頻率的變化而變化,在應(yīng)用頻率下測(cè)試能較好地控制規(guī)格。在應(yīng)用頻率下測(cè)試并校正,是確定線圈應(yīng)用性能極為有效的方法。
確定應(yīng)用頻率下的電感測(cè)試
在使用頻率下測(cè)試電感器的電氣步驟如下:
電感
1、確定標(biāo)稱電感值。
2、確定測(cè)試儀表、夾具和頻率。
3、確定電感公差。
a:用六西格瑪或其他合適的方法來確定允許的百分比公差。
b:評(píng)估測(cè)試頻率下標(biāo)稱阻抗的儀表誤差。將步驟3a中確定的允許公差減去此百分比誤差。
c:確定儀表和夾具的可重復(fù)性。將步驟3b的結(jié)果減去此百分比誤差。此結(jié)果為規(guī)定的公差。由于所有誤差都已被考慮進(jìn)去,制造商應(yīng)依規(guī)定的公差測(cè)試而無需校正。
Q
1、確定絕對(duì)最小Q值(允許最小值)。用六西格瑪或其他合適的方法來確定允許最小值??蛻魬?yīng)依此公差進(jìn)行測(cè)試。
2、確定測(cè)試儀表、夾具和頻率。
3、為制造確定最小Q值。
a:評(píng)估測(cè)試頻率下標(biāo)稱阻抗的儀表誤差。校正步驟1中確定的允許最小值(即,將最小Q值加上與儀表誤差相等的數(shù))。
b:確定儀表和夾具的可重復(fù)性。調(diào)整步驟3a中確定的新的允許最小值(即,將最小Q值加上與測(cè)試可重復(fù)性相等的數(shù))。此結(jié)果為規(guī)定的公差。由于所有誤差都已被并入最終調(diào)整后的Q規(guī)格中,制造商應(yīng)依規(guī)定的公差測(cè)試而無需校正。
DCR
1、確定絕對(duì)最大DCR(允許最大值)。用六西格瑪或其他合適的方法來確定允許最大值。
2、確定測(cè)試儀表和夾具。
3、為制造確定最大DCR。
a:評(píng)估標(biāo)稱電阻的儀表誤差。校正步驟1中確定的允許最大值(即,將最大DCR減去與儀表誤差相等的數(shù))。
b:確定儀表和夾具的可重復(fù)性。調(diào)整步驟3a中確定的新的允許最大值(即,將最大DCR減去與測(cè)試可重復(fù)性相等的數(shù))。此結(jié)果為規(guī)定的公差。由于所有誤差都已被并入最終調(diào)后的DCR規(guī)格中,制造商應(yīng)依規(guī)定的公差測(cè)試而無需校正。
SRF
確定絕對(duì)最小SRF(允許最小值)。假設(shè)需要對(duì)已篩選過的一批器件進(jìn)行測(cè)試,則只需對(duì)電感進(jìn)行100%測(cè)試。其他參數(shù)是伴隨著電感值的,因此僅需驗(yàn)證。
校正規(guī)格
由于不同的夾具和環(huán)境因素,使用校正方法并且在使用頻率下測(cè)試能夠消除誤差,而且能夠加嚴(yán)規(guī)格。校正方法可用于電感的任何參數(shù),但最常用于電感和Q。
結(jié)語
線圈電感和Q是受頻率影響的,測(cè)試方法對(duì)這些參數(shù)有更進(jìn)一步的影響。在實(shí)際電路頻率下確定和測(cè)試是控制電感參數(shù)的恰當(dāng)方法。使用頻率測(cè)試能夠確保元件與其實(shí)際應(yīng)用一致。電感的主要參數(shù)是相互關(guān)聯(lián)的線圈設(shè)計(jì)函數(shù)。電感規(guī)格應(yīng)考慮元件變數(shù)和測(cè)量系統(tǒng)誤差。
推薦閱讀:
特別推薦
- 授權(quán)代理商貿(mào)澤電子供應(yīng)Same Sky多樣化電子元器件
- 使用合適的窗口電壓監(jiān)控器優(yōu)化系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- ADI電機(jī)運(yùn)動(dòng)控制解決方案 驅(qū)動(dòng)智能運(yùn)動(dòng)新時(shí)代
- 倍福推出采用 TwinSAFE SC 技術(shù)的 EtherCAT 端子模塊 EL3453-0090
- TDK推出新的X系列環(huán)保型SMD壓敏電阻
- Vishay 推出新款采用0102、0204和 0207封裝的精密薄膜MELF電阻
- Microchip推出新款交鑰匙電容式觸摸控制器產(chǎn)品 MTCH2120
技術(shù)文章更多>>
- 中微公司成功從美國國防部中國軍事企業(yè)清單中移除
- 華邦電子白皮書:滿足歐盟無線電設(shè)備指令(RED)信息安全標(biāo)準(zhǔn)
- 功率器件熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)(九)——功率半導(dǎo)體模塊的熱擴(kuò)散
- 準(zhǔn) Z 源逆變器的設(shè)計(jì)
- 第12講:三菱電機(jī)高壓SiC芯片技術(shù)
技術(shù)白皮書下載更多>>
- 車規(guī)與基于V2X的車輛協(xié)同主動(dòng)避撞技術(shù)展望
- 數(shù)字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰(zhàn)
- 汽車模塊拋負(fù)載的解決方案
- 車用連接器的安全創(chuàng)新應(yīng)用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索