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電源軟啟動(dòng)設(shè)計(jì)對燒錄穩(wěn)定性的影響

發(fā)布時(shí)間:2015-08-14 責(zé)任編輯:echolady

【導(dǎo)讀】工程師大都對電源軟啟動(dòng)一次不陌生,很多關(guān)于開關(guān)電源芯片中都會(huì)提及軟啟動(dòng)電路在電源芯片中的作用。一部分工程師對軟啟動(dòng)了解不多,本文就著重講述一下電源軟啟動(dòng)對燒錄穩(wěn)定性的影響。

電源電路中通常會(huì)存在大容量電容,給電容加上電壓瞬間需要很大的浪涌電流,很可能造成輸入電源的降低。軟啟動(dòng)電路就是用于電源啟動(dòng)時(shí),減小浪涌電流,使輸出電壓緩慢上升,減小對輸入電源的影響。讓我們一起來看看,在電源設(shè)計(jì)里面,加入了軟啟動(dòng)的電路,是如何保障燒錄器穩(wěn)定燒錄的。

電源軟啟動(dòng)設(shè)計(jì)對燒錄穩(wěn)定性的影響

P800是周立功致遠(yuǎn)電子推出的4通道、多功能的在線編程器。每通道都可以輸出相互獨(dú)立、在1.25V~7V范圍內(nèi)可調(diào)的電源。在燒錄器內(nèi)部,每通道的電源都采用同一路電源VDD,并通過下圖所示的開關(guān)電路,使各通道電源相互獨(dú)立。

電源軟啟動(dòng)設(shè)計(jì)對燒錄穩(wěn)定性的影響

對上圖電路簡單分析:當(dāng)控制信號EN_VDDx為高電平時(shí),Q2飽和導(dǎo)通,Q1柵極拉低,Q1迅速導(dǎo)通,電源VDD輸出到相應(yīng)通道的VDD_OUT并供給待燒錄目標(biāo)板。這個(gè)看似簡單的電路,卻在進(jìn)行多通道異步在線燒錄測試時(shí)出了非常不穩(wěn)定的現(xiàn)象,到底是怎么回事呢?

我們用P800對4個(gè)ARM核心板進(jìn)行異步燒錄測試過程中,發(fā)現(xiàn)當(dāng)其中一個(gè)通道插入并上電初始化時(shí),其他通道會(huì)出現(xiàn)燒錄失敗的現(xiàn)象。由于4個(gè)通道的信號線相互獨(dú)立,只有電源VDD是共用的,因此我們猜測可能是ARM板上電初始化對VDD產(chǎn)生了干擾并影響到了其他通道。
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為了驗(yàn)證這一猜想,我們用示波器ZDS2022來觀察在VDD_OUTx上電過程中VDD的變化,并捕獲到了下面的波形圖。

電源軟啟動(dòng)設(shè)計(jì)對燒錄穩(wěn)定性的影響

從波形圖可以看到,在VDD_OUTx上升過程中,VDD從3.12V瞬間跌落至2.14V,再緩慢回升至3.12V,最大跌落幅度達(dá)980mV。由于另外3個(gè)通道的電源也由VDD提供,因此這3個(gè)通道在線燒寫失敗也就在所難免。

VDD_OUTx的上電為什么會(huì)造成VDD跌落呢?觀察波形圖我們還可以發(fā)現(xiàn),VDD_OUTx從0V上升到2V只用了3μs,根據(jù)電容充電公式:I=C×dU / dt,VDD_OUTx的去耦電容4.7μF,據(jù)此估算出浪涌電流達(dá)3A!正如前面所述,過大的浪涌電流最終造成了輸入電源的降低。

為了限制浪涌電流,可以將軟啟動(dòng)引入開關(guān)電路中,利用Q1的導(dǎo)通阻抗RDS(on)隨VGS變化的特性,通過延緩Q1導(dǎo)通的速度,使VDD_OUTx緩慢上升到VDD。引入的軟啟動(dòng)電路如下圖的C1、R4所示。

電源軟啟動(dòng)設(shè)計(jì)對燒錄穩(wěn)定性的影響

當(dāng)Q2集電極變低時(shí),C1通過R4放電,Q1柵極電壓隨之緩慢下降,從而控制Q1緩慢導(dǎo)通,使VDD_OUTx不會(huì)發(fā)生突變。用示波器ZDS2022觀察VDD_OUTx上電過程中VDD的變化,得到如下波形。

電源軟啟動(dòng)設(shè)計(jì)對燒錄穩(wěn)定性的影響

和加入軟啟動(dòng)之前的波形圖對比可以看到,VDD_OUTx的上升時(shí)間延長到了400μs,VDD的跌落問題也得到明顯改善。經(jīng)過長時(shí)間反復(fù)測試,都沒有再出現(xiàn)燒錄失敗現(xiàn)象。
就是這樣一個(gè)不起眼的軟啟動(dòng)電路,卻大大提升了編程器燒錄的穩(wěn)定性。生活中的一些小細(xì)節(jié)總能給人帶來意想不到的驚喜,工作也是如此。

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