你的位置:首頁 > 測試測量 > 正文

ZDS5054A示波器電源分析功能評測

發(fā)布時間:2022-03-20 來源:ZLG 責任編輯:wenwei

【導讀】在碳中和的時代背景下,從毫瓦級到兆瓦級的開關電源都在往高頻、高效、高密度的方向發(fā)展。ZDS5054A電源分析型示波器配備多種電源智能分析功能,幫助工程師快速設計高效可靠的電源。


背景介紹


在節(jié)能減排的時代背景下,從毫瓦級到兆瓦級的開關電源,都在往高頻、高效、高密度、智能化的方向發(fā)展,對于開關器件、磁性元件、電容、電感等器件的測試要求越來越高。


ZDS5054A電源分析功能為開關電源量身打造,涵蓋了輸入輸出特性測試,MOSFET、磁性元件、電容、電感等器件分析,調(diào)制波形測試等功能,全方位評測開關電源可靠性。

 

1645615951846110.png

電源分析功能應用場景


以典型的AC-DC電源為例,ZDS5054A電源分析型示波器的應用場景如上圖所示。下文我們簡單介紹幾個特點功能,實際測試過程可查看本期視頻。


開關損耗測試:精準量化分析MOSFET損耗


功率MOSFET開關損耗測試是PFC電源調(diào)試中的難點,由于SPWM每個周期的開關損耗都不相同,傳統(tǒng)通過手光標和數(shù)學運算手動測試的方式已經(jīng)不適用。


ZDS5054A示波器標配512M存儲深度,可捕獲多個完整調(diào)制周期SPWM波形,自動統(tǒng)計各開關周期的開通/關斷/導通損耗,計算最大值、最小值、平均值,準確量化開關器件的功率損耗。

 

1645615935223712.png


SOA分析:有效保障MOSFET安全工作


功率MOSFET瞬時電壓、電流、功率超出安全工作區(qū),會導致器件損壞、爆炸的風險陡增,常規(guī)調(diào)試手段難以對器件的各種工況進行全面評估。SOA安全工作區(qū)分析功能,可統(tǒng)計MOSFET在所有工況下瞬時參數(shù)超出安全工作區(qū)的概率,便于工程師更好的評估電源工作穩(wěn)定性。

 

1645615921357688.png


環(huán)路分析:快速判斷電源環(huán)路穩(wěn)定性


穩(wěn)定的反饋環(huán)路對開關電源來說是非常重要的,如果沒有足夠的相位裕度和幅值裕度,電源的動態(tài)性能就會很差或者出現(xiàn)輸出振蕩。伯德圖可以直觀呈現(xiàn)負反饋系統(tǒng)的增益、相位的頻率響應曲線,通過分析系統(tǒng)的增益余量與相位余量,可以判斷控制系統(tǒng)是否穩(wěn)定。


16.jpg



免責聲明:本文為轉載文章,轉載此文目的在于傳遞更多信息,版權歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權問題,請聯(lián)系小編進行處理。


推薦閱讀:


改造汽車天線

從硅過渡到碳化硅,MOSFET的結構及性能優(yōu)劣勢對比

低能量水平下的電壓轉換

打破陳規(guī)——將SiC FET作為斷路器

更多SiC FET選項意味著能更靈活地選擇劃算的解決方案

特別推薦
技術文章更多>>
技術白皮書下載更多>>
熱門搜索
?

關閉

?

關閉