- 如果一個元件的電阻隨著溫度的上升而減小,那么這個元件就具有負(fù)溫度系數(shù)。
- 如果一個元件的電阻隨著溫度的上升而增加,那么這個元件就具有正溫度系數(shù)。
- 在電阻與溫度關(guān)系圖中很容易看出溫度系數(shù)的正負(fù)極性。隨著溫度的上升,正斜率指示的是正溫度系數(shù),負(fù)斜率指示的是負(fù)溫度系數(shù)。
半導(dǎo)體元件的溫度系數(shù):正與負(fù)
發(fā)布時間:2017-09-06 來源:Scott Deuty 責(zé)任編輯:wenwei
【導(dǎo)讀】半導(dǎo)體產(chǎn)品具有不同類型的溫度系數(shù)。為了用好電阻或正向壓降及其隨溫度的變化等參數(shù),設(shè)計師必須充分理解各種器件的溫度系數(shù)。本文討論了流行的功率半導(dǎo)體的溫度系數(shù)及其在電路中的正確處理。
半導(dǎo)體產(chǎn)品具有不同類型的溫度系數(shù)。為了用好電阻或正向壓降及其隨溫度的變化等參數(shù),設(shè)計師必須充分理解各種器件的溫度系數(shù)。
首先解釋一下正溫度系數(shù)和負(fù)溫度系數(shù)的區(qū)別。照例,維基百科對兩者的區(qū)別做出了很好的解釋。下面是一些基礎(chǔ)知識:
本文將討論流行的功率半導(dǎo)體的溫度系數(shù)及其在電路中的正確處理。維基百科對半導(dǎo)體溫度系數(shù)有權(quán)威描述。
半導(dǎo)體電阻的負(fù)溫度系數(shù)
半導(dǎo)體材料溫度的上升將使載流子濃度提高,這將導(dǎo)致更多數(shù)量的載流子復(fù)合,從而提高半導(dǎo)體的電導(dǎo)率。電導(dǎo)率的提高使半導(dǎo)體材料的電阻隨溫度的上升而減小,形成電阻的負(fù)溫度系數(shù)。
對于基礎(chǔ)半導(dǎo)體理論,特別是基于結(jié)點(diǎn)的器件,比如雙極結(jié)型晶體管(BJT)和二極管,這是完全正確的。然而,像MOSFET和IGBT等元件事實(shí)上有電阻性溝道,會影響溫度系數(shù)的行為。
在工程技術(shù)學(xué)校,半導(dǎo)體理論總是從半導(dǎo)體結(jié)點(diǎn)產(chǎn)生的具有不同p和n濃度的能隙開始講起。通過將能量注入半導(dǎo)體,電子獲得熱能,進(jìn)而補(bǔ)充電子能量,這樣傳導(dǎo)時就要求更少的正向偏置電流。同樣,當(dāng)阻斷電壓時,二極管結(jié)點(diǎn)的漏電流隨溫度上升而增加。在一個功率因子校正電路中我首次親眼看到一些600V硅肖特基二極管開始碎裂。隨著它們的快速擴(kuò)張,波形呈熔巖燈式擴(kuò)張。幸運(yùn)的是,在危險發(fā)生之前我切斷了電路。只要提一下摩托羅拉不再開展半導(dǎo)體業(yè)務(wù)就能夠理解了。下面來看圖吧。
從圖1中可以看出,正向電壓隨溫度上升而下降。正向電壓的這種改變是可預(yù)測的,因此經(jīng)常作為測量獨(dú)立器件結(jié)點(diǎn)溫度的一種方法。
圖1:正向電壓隨溫度上升而下降。
前面提到的溫度系數(shù)趨勢與硅有關(guān)。碳化硅(SiC)和氮化鍺(GaN)等較新材料的溫度變化與硅有很大區(qū)別。
至于MOSFET,它們有著如圖所示的正溫度系數(shù),其中的Rds(on)隨溫度上升而增加。這是由MOSFET基底本身的電阻和器件的厚度造成的。更厚的器件可以承受更高的電壓,因此具有更高的導(dǎo)通電阻。
圖2:導(dǎo)通電阻 vs 柵-源電壓。
MOSFET電阻隨溫度上升而增加并不全是壞事。它能幫助平衡并聯(lián)的MOSFET之間的電流,因為電流總是流向具有最小電阻的路徑。
IGBT其實(shí)是一種介于BJT和MOSFET之間的混合器件。IGBT的IG或絕緣柵極部分指的是觸發(fā)器件的MOSFET;BT指的是雙極晶體管(實(shí)際上是其中兩個),用于傳導(dǎo)大部分電流。從下面的IC與VCE圖中的IGBT曲線可以看出這一點(diǎn),它不像MOSFET那樣提供基于電阻的圖形。注意斜率改變處的交叉點(diǎn)。
圖3:IC與VCE圖中的IGBT曲線。
銅具有正溫度系數(shù),其電阻隨著電流的增加而增加。下面是我從參考文獻(xiàn)中引用的一段文字,它對此進(jìn)行了很好的闡述:
“對導(dǎo)體而言,當(dāng)溫度上升時電阻會增加,因為電子與振動原子碰撞得更頻繁。這會減少電子的漂移速度(因此電流會減小)。所以導(dǎo)體電阻具有正溫度系數(shù)。”
來自主要功率電路元件的溫度系數(shù)影響會提高或降低效率。此外,它們會改變元件的溫升。理解這些行為將有益于設(shè)計的可靠性和性能。
本文轉(zhuǎn)載自電子技術(shù)設(shè)計。
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