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技術(shù)盲點(diǎn):?jiǎn)纹瑱C(jī)攻擊技術(shù)及其入侵過(guò)程詳解

發(fā)布時(shí)間:2015-03-29 責(zé)任編輯:echolady

【導(dǎo)讀】現(xiàn)如今,很多的電路設(shè)計(jì)中都具有單片機(jī),而普通的單片機(jī)都具有熔絲燒斷保護(hù)單片機(jī)內(nèi)代碼的功能,但是一些通用的低檔單片機(jī)就要遭殃了,它并非定位于制作安全類(lèi)產(chǎn)品,因此很多針對(duì)性的防范措施并不提供。

目前,攻擊單片機(jī)主要有以下四種技術(shù):

(1)軟件攻擊

該技術(shù)通常使用處理器通信接口并利用協(xié)議、加密算法或這些算法中的安全漏洞來(lái)進(jìn)行攻擊。軟件攻擊取得成功的一個(gè)典型事例是對(duì)早期ATMEL AT89C 系列單片機(jī)的攻擊。攻擊者利用了該系列單片機(jī)擦除操作時(shí)序設(shè)計(jì)上的漏洞,使用自編程序在擦除加密鎖定位后,停止下一步擦除片內(nèi)程序存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的操作,從而使加過(guò)密的單片機(jī)變成沒(méi)加密的單片機(jī),然后利用編程器讀出片內(nèi)程序。

(2)電子探測(cè)攻擊


該技術(shù)通常以高時(shí)間分辨率來(lái)監(jiān)控處理器在正常操作時(shí)所有電源和接口連接的模擬特性,并通過(guò)監(jiān)控它的電磁輻射特性來(lái)實(shí)施攻擊。因?yàn)閱纹瑱C(jī)是一個(gè)活動(dòng)的電子器件,當(dāng)它執(zhí)行不同的指令時(shí),對(duì)應(yīng)的電源功率消耗也相應(yīng)變化。這樣通過(guò)使用特殊的電子測(cè)量?jī)x器和數(shù)學(xué)統(tǒng)計(jì)方法分析和檢測(cè)這些變化,即可獲取單片機(jī)中的特定關(guān)鍵信息。

(3)過(guò)錯(cuò)產(chǎn)生技術(shù)

該技術(shù)使用異常工作條件來(lái)使處理器出錯(cuò),然后提供額外的訪(fǎng)問(wèn)來(lái)進(jìn)行攻擊。使用最廣泛的過(guò)錯(cuò)產(chǎn)生攻擊手段包括電壓沖擊和時(shí)鐘沖擊。低電壓和高電壓攻擊可用來(lái)禁止保護(hù)電路工作或強(qiáng)制處理器執(zhí)行錯(cuò)誤操作。時(shí)鐘瞬態(tài)跳變也許會(huì)復(fù)位保護(hù)電路而不會(huì)破壞受保護(hù)信息。電源和時(shí)鐘瞬態(tài)跳變可以在某些處理器中影響單條指令的解碼和執(zhí)行。

(4)探針技術(shù)

該技術(shù)是直接暴露芯片內(nèi)部連線(xiàn),然后觀察、操控、干擾單片機(jī)以達(dá)到攻擊目的。為了方便起見(jiàn),人們將以上四種攻擊技術(shù)分成兩類(lèi),一類(lèi)是侵入型攻擊(物理攻擊),這類(lèi)攻擊需要破壞封裝,然后借助半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備、顯微鏡和微定位器,在專(zhuān)門(mén)的實(shí)驗(yàn)室花上幾小時(shí)甚至幾周時(shí)間才能完成。所有的微探針技術(shù)都屬于侵入型攻擊。另外三種方法屬于非侵入型攻擊,被攻擊的單片機(jī)不會(huì)被物理?yè)p壞。在某些場(chǎng)合非侵入型攻擊是特別危險(xiǎn)的,這是因?yàn)榉乔秩胄凸羲柙O(shè)備通??梢宰灾坪蜕?jí),因此非常廉價(jià)。

大部分非侵入型攻擊需要攻擊者具備良好的處理器知識(shí)和軟件知識(shí)。與之相反,侵入型的探針攻擊則不需要太多的初始知識(shí),而且通常可用一整套相似的技術(shù)對(duì)付寬范圍的產(chǎn)品。 因此,對(duì)單片機(jī)的攻擊往往從侵入型的反向工程開(kāi)始,積累的經(jīng)驗(yàn)有助于開(kāi)發(fā)更加廉價(jià)和快速的非侵入型攻擊技術(shù)。

侵入型攻擊的一般過(guò)程

侵入型攻擊的第一步是揭去芯片封裝。有兩種方法可以達(dá)到這一目的:第一種是完全溶解掉芯片封裝,暴露金屬連線(xiàn)。第二種是只移掉硅核上面的塑料封裝。第一種方法需要將芯片綁定到測(cè)試夾具上,借助綁定臺(tái)來(lái)操作。第二種方法除了需要具備攻擊者一定的知識(shí)和必要的技能外,還需要個(gè)人的智慧和耐心,但操作起來(lái)相對(duì)比較方便。 芯片上面的塑料可以用小刀揭開(kāi),芯片周?chē)沫h(huán)氧樹(shù)脂可以用濃硝酸腐蝕掉。熱的濃硝酸會(huì)溶解掉芯片封裝而不會(huì)影響芯片及連線(xiàn)。該過(guò)程一般在非常干燥的條件下進(jìn)行,因?yàn)樗拇嬖诳赡軙?huì)侵蝕已暴露的鋁線(xiàn)連接。

接著在超聲池里先用丙酮清洗該芯片以除去殘余硝酸,然后用清水清洗以除去鹽分并干燥。沒(méi)有超聲池,一般就跳過(guò)這一步。這種情況下,芯片表面會(huì)有點(diǎn)臟,但是不太影響紫外光對(duì)芯片的操作效果。最后一步是尋找保護(hù)熔絲的位置并將保護(hù)熔絲暴露在紫外光下。一般用一臺(tái)放大倍數(shù)至少100倍的顯微鏡,從編程電壓輸入腳的連線(xiàn)跟蹤進(jìn)去,來(lái)尋找保護(hù)熔絲。若沒(méi)有顯微鏡,則采用將芯片的不同部分暴露到紫外光下并觀察結(jié)果的方式進(jìn)行簡(jiǎn)單的搜索。操作時(shí)應(yīng)用不透明的紙片覆蓋芯片以保護(hù)程序存儲(chǔ)器不被紫外光擦除。將保護(hù)熔絲暴露在紫外光下5~10分鐘就能破壞掉保護(hù)位的保護(hù)作用,之后,使用簡(jiǎn)單的編程器就可直接讀出程序存儲(chǔ)器的內(nèi)容。

對(duì)于使用了防護(hù)層來(lái)保護(hù)EEPROM單元的單片機(jī)來(lái)說(shuō),使用紫外光復(fù)位保護(hù)電路是不可行的。對(duì)于這種類(lèi)型的單片機(jī),一般使用微探針技術(shù)來(lái)讀取存儲(chǔ)器內(nèi)容。在芯片封裝打開(kāi)后,將芯片置于顯微鏡下就能夠很容易的找到從存儲(chǔ)器連到電路其它部分的數(shù)據(jù)總線(xiàn)。由于某種原因,芯片鎖定位在編程模式下并不鎖定對(duì)存儲(chǔ)器的訪(fǎng)問(wèn)。利用這一缺陷將探針?lè)旁跀?shù)據(jù)線(xiàn)的上面就能讀到所有想要的數(shù)據(jù)。在編程模式下,重啟讀過(guò)程并連接探針到另外的數(shù)據(jù)線(xiàn)上就可以讀出程序和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器中的所有信息。

還有一種可能的攻擊手段是借助顯微鏡和激光切割機(jī)等設(shè)備來(lái)尋找保護(hù)熔絲,從而尋查和這部分電路相聯(lián)系的所有信號(hào)線(xiàn)。由于設(shè)計(jì)有缺陷,因此,只要切斷從保護(hù)熔絲到其它電路的某一根信號(hào)線(xiàn),就能禁止整個(gè)保護(hù)功能。由于某種原因,這根線(xiàn)離其它的線(xiàn)非常遠(yuǎn),所以使用激光切割機(jī)完全可以切斷這根線(xiàn)而不影響臨近線(xiàn)。這樣,使用簡(jiǎn)單的編程器就能直接讀出程序存儲(chǔ)器的內(nèi)容。

雖然大多數(shù)普通單片機(jī)都具有熔絲燒斷保護(hù)單片機(jī)內(nèi)代碼的功能,但由于通用低檔的單片機(jī)并非定位于制作安全類(lèi)產(chǎn)品,因此,它們往往沒(méi)有提供有針對(duì)性的防范措施且安全級(jí)別較低。加上單片機(jī)應(yīng)用場(chǎng)合廣泛,銷(xiāo)售量大,廠(chǎng)商間委托加工與技術(shù)轉(zhuǎn)讓頻繁,大量技術(shù)資料外瀉,使得利用該類(lèi)芯片的設(shè)計(jì)漏洞和廠(chǎng)商的測(cè)試接口,并通過(guò)修改熔絲保護(hù)位等侵入型攻擊或非侵入型攻擊手段來(lái)讀取單片機(jī)的內(nèi)部程序變得比較容易。

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