【導(dǎo)讀】一位網(wǎng)友童鞋幾日改書(shū)，想從另一個(gè)角度來(lái)思考設(shè)計(jì)與失效機(jī)理的關(guān)系。將分享從幾個(gè)部分原因來(lái)詳細(xì)的解釋失效的原因，同時(shí)結(jié)合自己的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)分享了如何優(yōu)化的建議。值得大家好好學(xué)習(xí)。
這幾日改書(shū)，想到從另一個(gè)角度來(lái)思考設(shè)計(jì)與失效機(jī)理的關(guān)系。
這張圖是貼片的厚膜&薄膜電阻失效機(jī)理圖，從中可以發(fā)現(xiàn)其失效有幾部分原因組成：
1）電阻在模塊貼裝過(guò)程中的問(wèn)題=》模塊EOL可檢出；
2）電阻貼裝以后在模塊使用過(guò)程中的問(wèn)題；
3）電阻在自身生產(chǎn)過(guò)程的失效（這部分在圖上略去，可見(jiàn)松下給出的關(guān)系）；
如果我們按照模塊的失效機(jī)理來(lái)分析模塊的問(wèn)題，確確實(shí)實(shí)可以將所有的失效問(wèn)題分為兩類(lèi)。
1）瞬間的最壞情況疊加引起的過(guò)應(yīng)力導(dǎo)致失效；
2）由于累積傷害引起的問(wèn)題；
電路模塊劃分各個(gè)模塊功能組，對(duì)整個(gè)汽車(chē)電子模塊而言，可以把問(wèn)題分成若干層。
Level1 模塊功能的失效模式；
Level2 電路模塊的失效模式（Level 1的失效機(jī)理）；
Level3 元器件的失效模式（Level 2的失效機(jī)理）；
Level4 元器件失效機(jī)理。
因此，如果將模塊的DFMEA來(lái)表示的話(huà)，如果不做輔助的步驟，直接按照這個(gè)表格來(lái)填，那就有很多的缺陷了：
1）忽略了真正引起問(wèn)題的地方，如器件的失效機(jī)理這個(gè)機(jī)理是作用在模塊上導(dǎo)致器件失效，而表格里面體現(xiàn)不出問(wèn)題；
2）缺少Level 2，使得整個(gè)邏輯推演上缺少一定的完整性；
所以從整體上來(lái)看，我們可以發(fā)現(xiàn)硬件設(shè)計(jì)方法之中：
a）WCCA最壞情況分析：是用來(lái)防止過(guò)大應(yīng)力造成直接損壞；
b）可靠性預(yù)測(cè)和降額設(shè)計(jì)：是為了累積損傷導(dǎo)致失效；
c）FMEA表格更多的是一種評(píng)審的工具，而不是直接產(chǎn)生結(jié)果的表格，如果只有表格而沒(méi)有邏輯過(guò)程的傳遞
（Level4=>Level3=>Level2=>Level1，完整的分析鏈路），這個(gè)做的效果就不是很好了。
建議：
1）構(gòu)建元器件的失效機(jī)理圖；
2）根據(jù)失效機(jī)理圖，確認(rèn)設(shè)計(jì)過(guò)程中的監(jiān)控點(diǎn)（完成設(shè)計(jì)驗(yàn)算or仿真和評(píng)審檢查清單）；
3）使用模塊級(jí)別的DV、PV數(shù)據(jù)來(lái)監(jiān)控整個(gè)模塊的運(yùn)行狀態(tài)，通過(guò)分析數(shù)據(jù)來(lái)提高驗(yàn)算和仿真的精度。
