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8月問世 日置HIOKI首款阻抗分析儀-IM3570

發(fā)布時間:2010-08-02

產品特性:

  • 測量時間最快為0.5ms
  • 能夠高速測量共振頻率、發(fā)聲零件、振動傳感器
  • 與以往產品相比可高速的切換測量條件后進行測量

應用范圍:

  • 壓電元件(發(fā)聲零件、濾波器)、高分子電容的生產線上的檢查中
  • 電池材料

 
概要

阻抗分析儀IM3570是實現(xiàn)了測量頻率4Hz~5MHz的日置首款高精度•高速阻抗分析儀。根據(jù)客戶的用途,可以與原來本公司的LCR產品一樣選擇將測量值用數(shù)值顯示模式來顯示頻率/電平特性的測量圖表。

定位

IM3570是類似本公司以往產品LCR測試儀3532-50,并較其功能更為強大的產品。特別加強了頻率的掃描測量、高速測量、低ESR測量、DCR的連續(xù)測量和測量穩(wěn)定性,是HIOKI首款能在掃頻測量時顯示圖表的產品。此外,這款產品的測試速度、操作性、價格都非常符合現(xiàn)今市場需求,極具行業(yè)競爭性。

特點

關于測量精度,特別是低阻抗的操作反復精度比起以往產品都提高了一位,所以比較適合測量多mΩ、低ESR功能性高分子電容。

另外,測量時間最快為0.5ms(100kHz,F(xiàn)AST,顯示OFF時),所以能夠高速測量共振頻率、發(fā)聲零件、振動傳感器等,適合用于生產壓電元件的生產線。

最大的優(yōu)點是,與以往產品相比可高速的切換測量條件后進行測量。因此,以往的裝備多臺測試儀的系統(tǒng)現(xiàn)在用一臺IM3570就能搞定。比如,測量線圈,DCR測量(電阻計)和1MHz的L-Q值測量(LCR)都可以用IM3570測量。

主要應用

壓電元件(發(fā)聲零件、濾波器)、高分子電容的生產線上的檢查中,另外頻率掃描測量也可用于電池材料評估等多種用途中。

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