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泰克創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室開放平臺(tái),正式啟動(dòng)!

發(fā)布時(shí)間:2024-04-30 來(lái)源:投稿 責(zé)任編輯:admin

實(shí)驗(yàn)室開放季 + 專題開放日 + 高速接口發(fā)展與技術(shù)論壇;

三地開放:北京、上海、深圳;

三大熱點(diǎn):高速接口、先進(jìn)半導(dǎo)體、晶圓測(cè)試測(cè)量。

泰克創(chuàng)新論壇想必大家都已經(jīng)耳熟能詳了,自開辦起至今已持續(xù)了10余年,每年我們都希望能帶來(lái)不一樣的驚喜和新亮點(diǎn)。去年我們和國(guó)內(nèi)外大咖一起探索過(guò)火星(NASA工程師的分享),聽過(guò)AI終身學(xué)習(xí)課,也聊過(guò)自動(dòng)駕駛,看過(guò)很多汽車、半導(dǎo)體及高速串行通信等應(yīng)用領(lǐng)域的峰會(huì)講座。今年年初,我們上線了兩場(chǎng)以“跳進(jìn)創(chuàng)新的另一面”為專題的直播:“如何進(jìn)行晶圓級(jí)可靠性測(cè)試”與“高速串行鏈路分析軟件SDLA的使用入門和避坑指南”,旨在能讓更多工程師小伙伴更早參與進(jìn)來(lái),學(xué)習(xí)更多測(cè)試的基礎(chǔ)知識(shí)和實(shí)操技術(shù),為未來(lái)的創(chuàng)新打下基礎(chǔ)!

由此,泰克創(chuàng)新論壇衍生系列第二彈 —— 創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室開放季:【測(cè)試為先 向新而行】,正式來(lái)襲!該系列以深耕新質(zhì)生產(chǎn)力為核心,深度聚焦多個(gè)行業(yè)應(yīng)用,走進(jìn)客戶以創(chuàng)新賦能,全面深入地探究各位在日常工作中的測(cè)試痛點(diǎn),推動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域的創(chuàng)新與發(fā)展。

 

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實(shí)驗(yàn)開放日向來(lái)是工程師的最愛,因?yàn)槲覀冊(cè)谇巴蛻艄咀隽藬?shù)十個(gè)客戶服務(wù)日后發(fā)現(xiàn),很多工程師最想要看的內(nèi)容就是測(cè)試原理和實(shí)例演示,接下來(lái)的三個(gè)月參與開放季:

1)面對(duì)面探討常見測(cè)試問(wèn)題與解決方案

2)在專家?guī)ьI(lǐng)進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)DUT實(shí)測(cè)

3)手把手診斷測(cè)試及設(shè)計(jì)問(wèn)題

 

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上海:泰克高速創(chuàng)新開放實(shí)驗(yàn)室

先進(jìn)的算力芯片和服務(wù)器廠家在過(guò)去的幾年里紛紛部署PCIe5,而PCIe6的初代產(chǎn)品預(yù)計(jì)也將在今年內(nèi)會(huì)陸續(xù)開始研發(fā)。

 

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5月10日—AI & 數(shù)據(jù)中心專題(上海),我們邀請(qǐng)到泰克、安立、Viavi的技術(shù)專家,對(duì)PCIe5和PCIe6技術(shù)的測(cè)試挑戰(zhàn)和解決方案進(jìn)行全方位的干貨分享,包括Tx,Rx和Protocol,還會(huì)有真實(shí)產(chǎn)品進(jìn)行實(shí)測(cè)演示。作為彩蛋,我們還會(huì)介紹和演示MSO6高精度示波器測(cè)量算力系統(tǒng)的電源紋波。

我們將更加聚焦電源完整性設(shè)計(jì)和三代半導(dǎo)體測(cè)試的干貨分享,帶你了解儀器公司如何幫助電源工程師提升測(cè)試效率,提高測(cè)試精度,排查電源故障。參會(huì)者還可以跟隨泰克專家的引導(dǎo),使用泰克示波器,親自動(dòng)手測(cè)量真實(shí)待測(cè)物的電源質(zhì)量。

北京:泰克先進(jìn)半導(dǎo)體開放實(shí)驗(yàn)室

更為重磅的是,泰克先進(jìn)半導(dǎo)體開放實(shí)驗(yàn)室,將以更全面的方案整裝待發(fā)!

 

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全新實(shí)驗(yàn)室的研究方向涵蓋了半導(dǎo)體材料、器件設(shè)計(jì)與制造、封裝與測(cè)試等領(lǐng)域。主要關(guān)注的研究課題包括新型半導(dǎo)體材料的開發(fā)、高效能源器件的設(shè)計(jì)、先進(jìn)封裝技術(shù),致力于加速中國(guó)第三代半導(dǎo)體行業(yè)創(chuàng)新發(fā)展、工藝優(yōu)化、良率提升,讓工程師的工作更高效、更有信心。

深圳:矽電-泰克晶圓級(jí)探針測(cè)試測(cè)量聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室

第三代半導(dǎo)體芯片和功率器件研發(fā)、生產(chǎn)中的測(cè)試測(cè)量難點(diǎn)和挑戰(zhàn),如高壓放電、大電流測(cè)試、高溫性能測(cè)試、超薄翹曲晶圓轉(zhuǎn)運(yùn)等難題。

 

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矽電-泰克晶圓級(jí)探針測(cè)試測(cè)量聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室旨在強(qiáng)化國(guó)產(chǎn)化合物半導(dǎo)體功率器件測(cè)試驗(yàn)證的能力,進(jìn)一步探究和優(yōu)化基于高精度和高吞吐率下的一過(guò)性解決方案。聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室?guī)椭鷺I(yè)界高效解決這些測(cè)試難點(diǎn),在晶圓級(jí)測(cè)試節(jié)點(diǎn)提供WAT、CP、WLR、KGD等測(cè)試,在模塊級(jí)測(cè)試節(jié)點(diǎn)提供動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試、封測(cè)和可靠性測(cè)試,覆蓋了整個(gè)化合物半導(dǎo)體功率器件全制程。

了解泰克創(chuàng)新開放實(shí)驗(yàn)室更多新玩法,https://www.tek.com.cn/cn-open-lab-2024

關(guān)于泰克科技

泰克公司總部位于美國(guó)俄勒岡州畢佛頓市,致力提供創(chuàng)新、精確、操作簡(jiǎn)便的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)解決方案,解決各種問(wèn)題,釋放洞察力,推動(dòng)創(chuàng)新能力。70多年來(lái),泰克一直走在數(shù)字時(shí)代前沿。歡迎加入我們的創(chuàng)新之旅,敬請(qǐng)登錄:tek.com.cn

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