你的位置:首頁 > EMC安規(guī) > 正文

圖解極近場EMI掃描技術(shù)實(shí)例,汽車電子系統(tǒng)EMI/EMC測試保證

發(fā)布時(shí)間:2012-05-28 來源:newmaker

中心議題:
  • 極近場EMI掃描技術(shù)
  • EMI近場輻射特性:SSCG示例
  • EMI近場輻射特性:新一代串行解串器例子
汽車工程師不斷面臨著降低電磁干擾和確保所有汽車電子系統(tǒng)的電磁兼容的挑戰(zhàn)。如果引入了新器件但沒有進(jìn)行充分的測試,后果嚴(yán)重。本文通過兩個(gè)實(shí)例,圖解采用極近場EMI掃描技術(shù),可通過一個(gè)桌面系統(tǒng)來計(jì)量并立即顯示輻射的空間和頻譜特性,避免以后在更高費(fèi)用的模塊、系統(tǒng)或整車級測試中出現(xiàn)問題。

汽車電子系統(tǒng)對于供應(yīng)商提供的芯片和印制電路板的電磁輻射特別敏感。因此,SAE(原汽車工程師協(xié)會)已經(jīng)定義測試規(guī)范并建立滿足電磁兼容(EMC)和電磁干擾(EMI)的需求,并對其進(jìn)行了不斷的完善。采用極近場EM掃描技術(shù),供應(yīng)商的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)可以通過一個(gè)桌面系統(tǒng)來計(jì)量并立即顯示輻射的空間和頻譜特性,避免以后在更高費(fèi)用的模塊、系統(tǒng)或整車級測試中出現(xiàn)問題。

本文討論幾個(gè)能夠展示這種測試價(jià)值的例子。第一個(gè)例子是關(guān)于“擴(kuò)頻時(shí)鐘發(fā)生器(SSCG)”的輻射特性,分別在“關(guān)”和“開”的狀況下對其掃描。在第二個(gè)例子中,設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)對比了第二代半雙工串行解串器(串行器/解串器)系統(tǒng)與第三代全雙工系統(tǒng)。結(jié)果驗(yàn)證了新一代功能及其優(yōu)勢,不但幫助客戶縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間,并在客戶中產(chǎn)生了積極的影響。

極近場EMI掃描技術(shù)

快速磁性極近場測量儀器可以捕獲和顯示頻譜和實(shí)時(shí)空間掃描結(jié)果的可視圖像。芯片廠商和PCB設(shè)計(jì)工程師可以掃描任何一塊電路板,并識別出50kHz至4GHz頻率范圍內(nèi)的恒定或時(shí)基的輻射源。這種掃描技術(shù)有助于快速解決廣泛的電磁設(shè)計(jì)問題,包括濾波、屏蔽、共模、電流分布、抗干擾性和寬帶噪聲。

在任何新PCB的開發(fā)過程中,設(shè)計(jì)工程師都必須找出設(shè)計(jì)之外的輻射體或射頻泄漏,并對其進(jìn)行描述和處理以通過一致性測試??赡艿妮椛潴w包括高速、大功率器件以及具有高密度或高復(fù)雜度的器件。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性,因此測試人員可以準(zhǔn)確地找出所有輻射問題的來源。設(shè)計(jì)工程師可以在采取了相應(yīng)的解決措施之后,對器件進(jìn)行重新測試并立即量化出校正設(shè)計(jì)后的效果。

掃描系統(tǒng)由一個(gè)掃描儀、小型適配器、一個(gè)客戶提供的頻譜分析儀和運(yùn)行掃描系統(tǒng)軟件的PC組成。臺式掃描儀包括2,436條回路,可產(chǎn)生1,218個(gè)間隔為7.5mm的磁場探針,形成一個(gè)電子開關(guān)陣列并提供高達(dá)3.75mm的分辨率。系統(tǒng)工作頻率范圍為50kHz至4GHz,通過可選的軟件密鑰啟用。

這樣,用戶就可以自行對設(shè)計(jì)進(jìn)行測試,而不必依賴另外一個(gè)部門、測試工程師或進(jìn)行耗時(shí)的場外測試。工程師甚至可以在診斷一個(gè)間歇故障之后,對設(shè)計(jì)進(jìn)行更改,很快再進(jìn)行測試。測試的結(jié)果可以對設(shè)計(jì)更改的影響進(jìn)行精確的驗(yàn)證。

借助掃描系統(tǒng),電路板設(shè)計(jì)工程師可以預(yù)先測試和解決電磁兼容問題,從而避免產(chǎn)生非預(yù)期的一致性測試結(jié)果。掃描儀的診斷功能可以幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將輻射測試時(shí)間縮短兩個(gè)數(shù)量級以上。

EMI近場輻射特性:SSCG示例

某一大型半導(dǎo)體廠商在解串器的并行總線上實(shí)現(xiàn)了SSCG功能。SSCG功能能夠通過將輻射峰值能量擴(kuò)展到更寬的頻帶上來減少輻射。如下面的圖1所示,頻率變化發(fā)生在額定時(shí)鐘中心頻率(中心擴(kuò)頻調(diào)制)附近,擴(kuò)展的頻譜為正或負(fù)1.0%(fdev)。在接收器并行總線端,輸出以千赫茲(fmod)的調(diào)制速率隨時(shí)間調(diào)制時(shí)鐘頻率和數(shù)據(jù)頻譜。定制的串行解串器芯片組的目標(biāo)客戶是要求所安裝電子設(shè)備具有低EMI輻射特性的汽車廠商。

擴(kuò)頻時(shí)鐘功能
圖1:擴(kuò)頻時(shí)鐘功能
 
該公司期望用令人信服的量化證據(jù)來向汽車廠商說明SSCG功能可以有效降低EMI輻射。為了實(shí)現(xiàn)這個(gè)目標(biāo),設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)首先在SSCG功能為“關(guān)”的情況下將待測器件(DUT)放其內(nèi)部掃描儀上,加電,然后在PC中捕獲輻射特性。為了進(jìn)行有效的對比,在打開SSCG功能的情況下,對同一待測器件進(jìn)行了掃描。

極近場掃描系統(tǒng)完成了空間和頻譜掃描后顯示并生成了以下輻射特性圖。需注意的是,掃描結(jié)果疊加在Gerber設(shè)計(jì)文件上,因此這樣對結(jié)果進(jìn)行分析可以立即確定待測器件中的具體輻射體。圖2顯示了SSCG功能為“關(guān)”時(shí)待測器件的輻射特性。

SSCG功能為“關(guān)”時(shí)測得的EMI輻射特性
圖2:SSCG功能為“關(guān)”時(shí)測得的EMI輻射特性
[page]
圖3為SSCG功能為“開”時(shí)待測設(shè)備輻射的空間和頻譜(幅度與頻率)特性。通過對比,可以發(fā)現(xiàn)輻射已經(jīng)顯著減少。

SSCG功能為“開”時(shí)的EMI輻射特性
圖3:SSCG功能為“開”時(shí)的EMI輻射特性
 
對測試結(jié)果進(jìn)行比較之后,設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導(dǎo)致電磁輻射顯著減少。汽車電子工程師最大的挑戰(zhàn)在于減少EMI輻射??蛻糁С謭F(tuán)隊(duì)每次向汽車廠商客戶展示這些結(jié)果時(shí),他們普遍都表現(xiàn)出了極大的興趣。任何降低EMI的功能(此案例中為SSCG功能)都可以縮短上市時(shí)間、降低屏蔽和成本支出。

EMI近場輻射特性:新一代串行解串器例子

這是同一家半導(dǎo)體供應(yīng)商的第二個(gè)例子,該公司開發(fā)了一個(gè)通過串行解串器進(jìn)行點(diǎn)到點(diǎn)傳輸?shù)牡诙酒M解決方案。在第三代芯片組中,設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)采用了一種不同的技術(shù)并升級了傳輸能力。他們將雙向控制通道一起嵌入高速串行鏈路中,從而實(shí)現(xiàn)了雙向傳輸(全雙工)。

為了量化比較半雙工解串器與新一代全雙工設(shè)計(jì)的輻射特性,設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)再次使用了內(nèi)部的EMI極近場掃描儀。他們將原來的半雙工板放在掃描儀上,進(jìn)行基線測量。對待測器件加電后,他們在PC上激活了掃描儀。(參見圖4)

EMI近場輻射特性:新一代串行解串器例子
EMI近場輻射特性:新一代串行解串器例子

采用同樣的測試設(shè)置,設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)用新一代全雙工芯片組板替代了基線板,同時(shí)也針對每一條特性保持了同樣的規(guī)格。如上文所述,需注意的是,空間掃描疊加在每次生成的Gerber設(shè)計(jì)文件上,以幫助工程師可以確定任何存在的輻射源。
[page]
基線(半雙工)系統(tǒng)的空間和頻譜特性如圖5所示。圖6展示了全雙工模式下的輻射掃描結(jié)果。

基線掃描結(jié)果:半雙工模式下的串行解串器
圖5:基線掃描結(jié)果:半雙工模式下的串行解串器
輻射特性:全雙工模式下的串行解串器
圖6:輻射特性:全雙工模式下的串行解串器
 
設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)對空間掃描結(jié)果和頻譜掃描結(jié)果進(jìn)行了仔細(xì)的對比。很多人可能認(rèn)為輻射特性會由于擴(kuò)展的雙向傳輸功能而呈現(xiàn)出更高的電磁輸出。而實(shí)際上,與基線相比,全雙工模式下沒有出現(xiàn)尖峰信號并且峰值輻射基本相似,甚至其EMI特性還略有改進(jìn)(空間掃描結(jié)果呈現(xiàn)更深的藍(lán)色)。測試結(jié)果證明全雙工模式的新芯片組未出現(xiàn)明顯的變化(見圖3),設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)在沒有采取任何額外緩解措施的情況下實(shí)現(xiàn)了全雙工功能。

這些測試是利用這家半導(dǎo)體公司的內(nèi)部極近場掃描系統(tǒng)進(jìn)行的。在短短的幾分鐘內(nèi), 就獲得了上文所示的結(jié)果。因?yàn)檩椛涮匦越Y(jié)果清楚的展示了其優(yōu)越的性能,設(shè)計(jì)無需采取任何額外的緩解措施。

相比而言,要在第三方測試箱中測試新設(shè)計(jì),就要求工程師前往場外測試場所,并會耗費(fèi)大半天的時(shí)間。使用測試箱往往需要提前幾周安排,這會給開發(fā)過程帶來極大的延誤。

極近場掃描解決方案不會替代在測試箱中測試設(shè)計(jì)的需求。不過,這種儀器可以在簡便的桌面系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)快速的前后一致性測試功能。

與在測試箱中進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量相比,極近場EMI特性可以提供實(shí)時(shí)反饋。此外,這些測量結(jié)果與在測試箱中測得的遠(yuǎn)場測量結(jié)果具有很高的相關(guān)性。因此,諸如EMxpert等極近場儀器可以減少在測試箱中進(jìn)行類似測試的數(shù)量。總之,這可以幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)加快測試進(jìn)程,更快地得到測試箱測試的一致性測試結(jié)果。

本文小結(jié)


汽車工程師不斷面臨著降低電磁干擾和確保所有汽車電子系統(tǒng)的電磁兼容的挑戰(zhàn)。如果引入了新器件但沒有進(jìn)行充分的測試,這些工作就會越來越困難。當(dāng)供應(yīng)商能夠有力證明新功能可以像上文的兩個(gè)例子所示一樣具有降低EMI的效果時(shí),就能引起客戶極大的興趣。

在上文的兩個(gè)例子中,供應(yīng)商提供的結(jié)果顯示采用了SSCG功能可以降低EMI,同時(shí)在新一代串行解串器例子中其輻射特性則沒有變化。因此,極近場EM掃描可以縮短每個(gè)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)周期,無需采取任何額外措施并為汽車廠商降低成本。

對于供應(yīng)商而言,極近場EMI掃描技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)極具說服力的頻譜掃描,并且可以直觀的把空間掃描結(jié)果疊加在Gerber設(shè)計(jì)文件上。這些功能可以幫助設(shè)計(jì)工程師記錄和測量其產(chǎn)品新功能組的EMI特性。設(shè)計(jì)工程師繼而可以在采取了新的緩解措施或者其它設(shè)計(jì)變更后快速的進(jìn)行重新測試。因此,供應(yīng)商設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)也縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間,而極具說服力的掃描結(jié)果可以使方案得到汽車廠商更快的采納。
要采購串行解串器么,點(diǎn)這里了解一下價(jià)格!
特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書下載更多>>
熱門搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉