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采用系統(tǒng)級模塊方法簡化精密阻抗分析儀的設(shè)計

發(fā)布時間:2024-11-23 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】許多應(yīng)用都要求準(zhǔn)確的阻抗測量,這些應(yīng)用包括觸摸屏校準(zhǔn)、半導(dǎo)體表征、晶圓驗收和電池測試。用于這些應(yīng)用的自動測試設(shè)備 (ATE) 通常需要以高精確度、高靈敏度的方式測量某個寬頻范圍內(nèi)的阻抗。


許多應(yīng)用都要求準(zhǔn)確的阻抗測量,這些應(yīng)用包括觸摸屏校準(zhǔn)、半導(dǎo)體表征、晶圓驗收和電池測試。用于這些應(yīng)用的自動測試設(shè)備 (ATE) 通常需要以高精確度、高靈敏度的方式測量某個寬頻范圍內(nèi)的阻抗。

為這些應(yīng)用開發(fā)定制型阻抗測量設(shè)備會面臨諸多挑戰(zhàn),包括硬件設(shè)計、軟件開發(fā)和測試。這些參數(shù)要求設(shè)計人員擁有大量的模擬和數(shù)字信號處理專業(yè)知識,并且可能會造成延誤,進(jìn)而影響項目的進(jìn)度和預(yù)算。

為了規(guī)避這些挑戰(zhàn),設(shè)計人員可以選擇預(yù)先集成了高精度阻抗測量所需的關(guān)鍵硬件和軟件的系統(tǒng)級模塊 (SOM)。有了這種模塊,設(shè)計人員就能專注于其核心能力和特定應(yīng)用的開發(fā),而不是解決阻抗測量技術(shù)的復(fù)雜性問題。

本文簡要回顧了 ATE 中阻抗測量的關(guān)鍵要求。然后介紹 Analog Devices (ADI) 推出的一款合適的阻抗分析儀 SOM,并演示如何將該模塊與相關(guān)評估板配套使用。

ATE 的精密阻抗測量要求

用于觸摸屏校準(zhǔn)、半導(dǎo)體表征、晶圓驗收和電池測試等應(yīng)用的 ATE 有一些特殊要求,具體包括:

· 頻率范圍寬:通常從低于 1 Hz 到 MHz
· 高精確度和一致性:通常為 0.1% 或更高
· 高靈敏度:可測量微小的阻抗變化
· 快速測量:可進(jìn)行高吞吐量測試
· 能夠處理從微歐 (μΩ) 到兆歐 (MΩ) 的各種阻抗值
· 自動掃描和復(fù)雜測量序列功能

值得注意的是,不同應(yīng)用之間的要求可能差別很大。例如,觸摸屏校準(zhǔn)可能需要飛法拉 (fF) 范圍內(nèi)的電容變化靈敏度,而晶圓驗收靈敏度可達(dá)阿法拉 (aF) 范圍。

ATE 的精密阻抗測量設(shè)計所面臨的挑戰(zhàn)

為這些應(yīng)用開發(fā) ATE 需要大量的專業(yè)知識和資源,因此開發(fā)周期長,非重復(fù)性工程成本高。與定制阻抗測量設(shè)計有關(guān)的挑戰(zhàn)包括以下方面:

· 復(fù)雜的硬件設(shè)計:創(chuàng)建能夠在寬頻率和寬阻抗范圍內(nèi)進(jìn)行精確測量的高精度模擬前端就需要模擬和數(shù)字信號處理方面的專業(yè)知識,并要求仔細(xì)關(guān)注印刷電路板(PC 板)布局和屏蔽細(xì)節(jié)。
· 復(fù)雜的軟件開發(fā):阻抗計算、校準(zhǔn)和補償算法的實施非常復(fù)雜。支持多種測量格式和自動掃描,進(jìn)一步增加了復(fù)雜性。
· 校準(zhǔn)和精確度:要在不同的測量條件下達(dá)到并保持高精確度,需要復(fù)雜的校準(zhǔn)程序和補償技術(shù)。

諸如 ADI 的 ADMX2001B 等預(yù)設(shè)計評估模塊可以大大簡化這些挑戰(zhàn)。該 SOM 將精密阻抗分析儀的主要組件集成在 1.5 x 2.5 英寸 (in.) 的小巧封裝中。如圖 1 所示,該模塊可插入 EVAL-ADMX2001EBZ 評估板。該評估板附帶設(shè)計探索和快速原型開發(fā)軟件。


采用系統(tǒng)級模塊方法簡化精密阻抗分析儀的設(shè)計圖 1:ADMX2001B 阻抗測量模塊插入 EVAL-ADMX2001EBZ 評估板。(圖片來源:Analog Devices)


盡管該模塊并非用于生產(chǎn)設(shè)計,但其原理圖、物料清單 (BOM)、Gerber 文件和固件均可提供。這樣,公司就可以構(gòu)建自己的模塊版本,或?qū)⑵浼傻礁蟮脑O(shè)計中。無論哪種方式,預(yù)設(shè)計都能讓設(shè)計人員省去許多挑戰(zhàn)性任務(wù),使公司能夠?qū)W⒂谧约旱膶I(yè)領(lǐng)域。

模塊構(gòu)建是一個特別有趣的選項,它為開發(fā)人員提供了一個直接的、經(jīng)濟(jì)高效的途徑來擴(kuò)展設(shè)計。在增加功能或針對不同的使用案例調(diào)整設(shè)計時,開發(fā)人員可以將模塊保留為設(shè)計核心,而不必從頭開始。

ADMX2001B 功能和性能概述

ADMX2001B 結(jié)合了高性能混合信號電路和先進(jìn)的處理算法,可實現(xiàn)精確的阻抗測量。該模塊的頻率范圍為從直流到 10 MHz,測量精確度可達(dá) 0.05%。該模塊的電阻范圍從 100 μΩ 到 20 MΩ,電容范圍從 100 aF 到 160 F,電感范圍從 1 納亨 (nH) 到 1600 亨利 (H)。該模塊能以每次 2.7 毫秒 (ms) 的速度進(jìn)行測量,并提供 18 種阻抗測量格式,以滿足各種不同的應(yīng)用和元器件類型的需要。

ADMX2001B 具有自動功能,包括多點和參數(shù)掃描以及直流電阻測量,因此無需人工干預(yù)即可執(zhí)行復(fù)雜的序列和全面的元器件表征。自動校準(zhǔn)程序、非易失性存儲器和補償功能確保了測量的可追溯性、可靠性,并消除了夾具寄生現(xiàn)象。該模塊體積小巧,采用 UART、SPI 和 GPIO 接口,可輕松集成到高密度測試系統(tǒng)和便攜式設(shè)備中。此外,該模塊還支持在 Windows、macOS、Linux、Raspberry Pi 和 Arduino 平臺上進(jìn)行開發(fā),因此可適用于更大的系統(tǒng)或定制應(yīng)用程序。

這些功能使該模塊可用于各種要求苛刻的應(yīng)用。

EVAL-ADMX2001EBZ 評估板概述

開發(fā)人員可以使用 EVAL-ADMX2001EBZ 評估和開發(fā)分線板來探索 ADMX2001B 的設(shè)計思路。通過該電路板可以方便地訪問模塊的功能和特性:

· BNC 連接器:可與常見的電感、電容、電阻 (LCR) 測量儀的測試探頭和夾具連接
· UART 接口:可與 USB 轉(zhuǎn) UART 電纜配合使用,連接主機(jī)電腦
· 通過 SMA 連接器提供觸發(fā)和時鐘同步信號,簡化了與標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備的連接
· Arduino 樣式針座:讓用戶使用 SDP-K1 等電路板開發(fā)嵌入式代碼
· 電源插孔:可接受來自 AC/DC 電源適配器的各種輸入電壓,可提供 5 V 至 +12 V 電壓

評估板主要用于演示 LCR 測量儀。要進(jìn)行演示,還需要一些其他硬件:

· LCR 測量儀附件,如測試夾具
· 校準(zhǔn)附件,如標(biāo)準(zhǔn)電阻器組
· 臺式 LCR 測量儀:用于驗證演示結(jié)果

演示時還需要其他軟件:

· 虛擬 COM 端口 (VCP) 驅(qū)動程序:將 USB 設(shè)備顯示為 PC 可用的額外 COM 端口
· ADI Mbed 代碼:讓設(shè)計人員使用 Arm? Mbed 平臺進(jìn)行校準(zhǔn)等基本操作
· TeraTerm 或類似終端模擬器:支持用于光標(biāo)定位和文本顏色的 ANSI 轉(zhuǎn)義碼

使用 EVAL-ADMX2001EBZ 演示 LCR 測量儀

演示程序的設(shè)置非常簡單?;静襟E如下:

1.硬件設(shè)置(圖 2):

· 將 ADMX2001B 模塊連接到 EVAL-ADMX2001EBZ 評估板。
· 將 USB 轉(zhuǎn) UART 電纜(附帶)連接到電路板和主機(jī)。
· 使用隨附的電源適配器接通電源。


采用系統(tǒng)級模塊方法簡化精密阻抗分析儀的設(shè)計圖 2:所示為 EVAL-ADMX2001EBZ 評估板設(shè)置框圖。(圖片來源:Analog Devices)


2.軟件設(shè)置:

· 安裝 VCP 驅(qū)動程序。
· 安裝 TeraTerm(或類似的終端模擬器)。

3.基本配置(圖 3):

· 打開終端模擬器,建立串行連接。
· 使用指令設(shè)置頻率、振幅和偏置等測量參數(shù)。


采用系統(tǒng)級模塊方法簡化精密阻抗分析儀的設(shè)計圖 3:所示為 ADMX2001B 端子接口。(圖片來源:Analog Devices)


4.校準(zhǔn)程序:

· ADMX2001B 需要三步校準(zhǔn)程序。
· 使用“校準(zhǔn)開路”、“校準(zhǔn)短路”或“校準(zhǔn) rt”指令后,設(shè)計人員必須按照提示分別執(zhí)行開路、短路和負(fù)載測量。
· 為了獲得最佳結(jié)果,必須執(zhí)行高質(zhì)量的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。
· 校準(zhǔn)過程結(jié)束后,必須將校準(zhǔn)系數(shù)保存到板載非易失性存儲器中。

5.夾具補償:

· 設(shè)計人員在使用測試夾具時必須進(jìn)行夾具補償,以消除寄生效應(yīng)。
· 可以使用固件中提供的夾具補償功能。

6.驗證:

· 校準(zhǔn)結(jié)束后,使用已知標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測量,以驗證準(zhǔn)確性。

7.測量:

· 必須使用“Z”命令才能執(zhí)行阻抗測量。
· 要更改測量格式,可使用“顯示”(例如,“display 6”表示矩形坐標(biāo)阻抗)。
· 然后,設(shè)計人員根據(jù)應(yīng)用需要設(shè)置測量模式、量程和其他參數(shù)。
· “平均”和“計數(shù)”等命令可以配置多個測量值。

結(jié)束語

設(shè)計阻抗測量設(shè)備會面臨各種嚴(yán)峻的設(shè)計挑戰(zhàn),從棘手的電路板布局到復(fù)雜的信號處理軟件,不一而足。使用類似 ADI 的 ADMX2001B 預(yù)設(shè)計 SOM,設(shè)計人員可以忽略許多復(fù)雜的問題。這使他們能夠?qū)W⒂谧约旱莫毺貎r值,同時節(jié)省時間和成本,并為未來的衍生設(shè)計提供一條直接的途徑。

(作者:Kenton Williston)


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