【描述】本文介紹了如何使用ADC的采樣和保持 (S&H) 或跟蹤和保持 (T&H) 電路來防止幅度偏差，通過來自Texas Instruments、Maxim Integrated和Analog Devices的針對不同應(yīng)用、具有不同特性的器件實(shí)例，討論了S&H IC的特性和選擇標(biāo)準(zhǔn)，并介紹了帶有集成S&H的ADC。

 

【摘要】采樣和保持 (S&H) 或跟蹤和保持 (T&H) 電路位于抗混疊低通濾波器和ADC之間，在轉(zhuǎn)換過程中可以讓ADC的輸入電壓保持恒定，使得模數(shù)轉(zhuǎn)換過程中的電壓偏差降至最低。本文介紹了如何使用S&H) 或T&H電路來防止幅度偏差，通過來自Texas Instruments、Maxim Integrated和Analog Devices的針對不同應(yīng)用、具有不同特性的器件實(shí)例，討論了S&H IC的特性和選擇標(biāo)準(zhǔn)，并介紹了帶有集成S&H的ADC。

 

【功能】Data Conversion      數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換

 

【產(chǎn)品】Semiconductors & Dev Tools 半導(dǎo)體和開發(fā)工具

 

【等級】高階

 

將模擬信號從“現(xiàn)實(shí)”世界轉(zhuǎn)換為可以在上游處理的數(shù)字信號是電子系統(tǒng)的一項(xiàng)基本功能，范圍覆蓋從錄音到物聯(lián)網(wǎng) (IoT)、工業(yè)物聯(lián)網(wǎng) (IIoT)，以及現(xiàn)在的智能物聯(lián)網(wǎng) (AIoT)。但是，為了有效地使用和執(zhí)行，需要我們對其基本原理和操作步驟有一定程度的理解，而這往往又被人們忽視。

 

舉例來說，假設(shè)施加到模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 輸入上的典型模擬信號的幅度不斷變化，那么在轉(zhuǎn)換前信號究竟是如何先“保持”再“采樣”的呢？信號轉(zhuǎn)換結(jié)束時(shí)與一開始會有不同嗎？這種幅度變化或偏差會導(dǎo)致嚴(yán)重的誤差，特別對于需要花費(fèi)更多時(shí)間進(jìn)行信號轉(zhuǎn)換的高分辨率ADC來說，更是如此。設(shè)計(jì)人員面臨的挑戰(zhàn)是，既要了解又要消除這種誤差源。

 

本文介紹了如何使用ADC的采樣和保持 (S&H) 或跟蹤和保持 (T&H) 電路來防止幅度偏差。S&H（或T&H）電路會執(zhí)行真實(shí)輸入采樣，工作區(qū)間位于輸入抗混疊低通濾波器和ADC之間。本文討論了S&H IC的特性和選擇標(biāo)準(zhǔn)，并介紹了帶有集成S&H的ADC。為了方便描述，我們使用了Texas Instruments、Maxim Integrated和Analog Devices提供的、具有針對不同應(yīng)用的不同特性的樣件。

 

采樣和保持電路在ADC中的作用

 

當(dāng)將非直流信號施加到ADC的輸入時(shí)，它會不斷改變幅度。但是，模數(shù)轉(zhuǎn)換過程需要一定的時(shí)間間隔，在這段時(shí)間內(nèi)，ADC輸入的幅度將發(fā)生變化（圖1）。正是這種幅度偏差導(dǎo)致了潛在的嚴(yán)重誤差。

此時(shí)防止ADC中的幅度偏差就變成了轉(zhuǎn)換過程中如何對信號采樣并保持固定幅度的問題。這可通過對ADC使用S&H或T&H電路來實(shí)現(xiàn)（圖2）。

 

圖2：S&H（左）電路與 T&H（右）電路的主要區(qū)別在于跟蹤周期的持續(xù)時(shí)間：即 S&H 較短，而T&H較長。（圖片來源：Digi-Key Electronics）

 

兩種類型的電路都對輸入信號進(jìn)行采樣，并在轉(zhuǎn)換過程中保持采樣電壓恒定。T&H電路輸出（右）跟蹤輸入信號，直到發(fā)出采樣信號；然后在ADC轉(zhuǎn)換期間保存該采樣值。S&H的采樣孔徑更短，其輸出是一系列采樣電平（左）。T&H和S&H之間的主要區(qū)別在于跟蹤間隔的持續(xù)時(shí)間：即S&H較短，而T&H較長。這兩個電路均依靠快速開關(guān)來隔離已連接至信號輸入端的儲能電容器。本文余下內(nèi)容中將使用S&H同時(shí)指代S&H或T&H。

 

S&H級會執(zhí)行真實(shí)輸入采樣，工作區(qū)間位于輸入抗混疊低通濾波器和ADC之間。低通濾波器執(zhí)行抗混疊頻帶限制，且必須先于S&H，這樣便可在采樣前對信號進(jìn)行頻帶限制，以防止發(fā)生混疊（圖3）。

 

 

請注意，S&H之前的信號都是模擬信號。S&H的輸出是一個饋送至ADC的采樣波形。

 

典型的S&H器件

 

Texas Instruments LF398MX/NOPB S&H集成電路 (IC) 框圖顯示了基本電路配置（圖4）。S&H是使用快速開關(guān)和高質(zhì)量電容器實(shí)現(xiàn)的。對于LF398MX/NOPB，電容器在IC外部。當(dāng)開關(guān)閉合時(shí)，電容器就會充電至輸入信號電壓電平。當(dāng)開關(guān)斷開時(shí)，電容器保持該電壓，直到由ADC將其數(shù)字化為止。這個S&H使用了bi-FET技術(shù)，將FET與雙極型晶體管組合在一起，以高直流精度（典型值0.002%）和極低電壓降（通常小于每秒83微伏 (µV)）來支持快速采樣（小于6微秒 (µs)，幅度誤差為0.01%）。內(nèi)部放大器緩沖了開關(guān)和保持電容器。

 

S&H的采樣時(shí)間取決于保持電容器的值，該值可能范圍為0.001至0.1微法拉 (µF)。外部保持電容器必須具有低介電吸收和低泄漏能力。建議使用聚苯乙烯、聚丙烯和聚四氟乙烯電容器。

 

圖4：Texas Instruments LF398MX/NOPB S&H框圖顯示了關(guān)鍵組件：快速開關(guān)和外部保持電容器。（圖片來源：Texas Instruments）

 

S&H特征

 

S&H器件具有許多用于描述其操作的特定術(shù)語（圖5）。

 

圖5：常見S&H動態(tài)特征的定義包括采樣時(shí)間、建立時(shí)間、孔徑時(shí)間和幅度下降。（圖片來源：Digi-Key Electronics）

 

采樣時(shí)間是指從切換到采樣模式到S&H開始跟蹤輸入信號的時(shí)間。它是保持電容器的值以及開關(guān)與信號路徑的串聯(lián)電阻的函數(shù)。當(dāng)模式恢復(fù)到保持狀態(tài)時(shí)，在器件停止跟蹤輸入并開始保持值前，可能會有一段時(shí)間延遲——這就是孔徑時(shí)間。孔徑時(shí)間是驅(qū)動器和開關(guān)傳播延遲的函數(shù)?？讖讲淮_定性或抖動是由于時(shí)鐘變化和噪聲導(dǎo)致的孔徑時(shí)間差異。

 

一旦進(jìn)入保持模式后，進(jìn)入該模式到器件的保持值穩(wěn)定在一個誤差帶內(nèi)，之間會有一段時(shí)間，這個時(shí)間就是所謂的建立時(shí)間或保持建立時(shí)間。在建立時(shí)間的某些部分，在開關(guān)驅(qū)動器和保持電容器之間可能會包括不必要的電荷轉(zhuǎn)移；這就所謂的保持跳變或基座誤差。保持跳變的幅度通常在毫伏 (mV) 范圍內(nèi)，并且通過將全范圍信號保持盡可能高，可以將其影響最小化。

 

S&H的最短采樣周期是采樣時(shí)間、孔徑時(shí)間和建立時(shí)間之和?？赡艿淖畲蟛蓸勇适遣蓸訒r(shí)間、孔徑時(shí)間和建立時(shí)間之和的倒數(shù)。

 

在保持模式下，由于保持電容的泄漏，S&H保持值可能會降低。此電壓增量稱為壓降。通常表示為以mV/秒為單位的下降率。

 

S&H配置

 

S&H IC具有多種配置，可滿足各種應(yīng)用需求。以一個需要差分輸入的應(yīng)用為例，比如需要連接像加速計(jì)、應(yīng)變計(jì)或光學(xué)電流監(jiān)控器這樣的差分輸出傳感器。Maxim Integrated DS1843D+TRL就是適合這種應(yīng)用的S&H IC好實(shí)例（圖6）。

 

圖6：如該典型工作電路所示，Maxim Integrated DS1843+TRL是一個差分S&H，使用了雙保持電容器來實(shí)現(xiàn)差分采樣。（圖片來源：Maxim Integrated）

 

所示DS1843+TRL用于一個典型的光學(xué)線路傳輸應(yīng)用，在該應(yīng)用中用于猝發(fā)模式接收信號強(qiáng)度指標(biāo) (RSSI) 測量。Maxim Integrated DS1842/MAX4007是一款電流監(jiān)視器，可鏡像來自連接其參考輸入的雪崩光電二極管的電流。輸出電流直接通過電阻RIN，并將其轉(zhuǎn)換為電壓。然后電壓由包括全差分采樣開關(guān)和電容器CS以及差分輸出緩沖器的DS1843進(jìn)行差分測量。這個S&H使用兩個5皮法拉 (pF) 電容器，一個電容器連接到正差分輸入，另一個連接到負(fù)差分輸入。低電容值可確?？焖俨蓸訒r(shí)間。該器件的快速采樣時(shí)間少于300納秒 (ns)。該S&H的保持時(shí)間大于 100 µs。

 

市面上提供的器件在單個IC封裝中可容納四個或八個S&H電路。例如，Analog Devices的SMP04ESZ-REEL四通道S&H。SMP04ESZ-REEL是一個CMOS器件，在一個通用封裝中包含了四個S&H電路，其采樣時(shí)間為7µs，下降率僅為2mV/s（圖7）。

 

圖7還展示了S&H如何與數(shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC) 一起使用，在這種情況下，可以防止由于DAC中的代碼轉(zhuǎn)換而引起的輸出瞬變或毛刺。

 

圖7：Analog Devices SMP04四通道S&H包含四個獨(dú)立的S&H電路以及匹配的緩沖放大器。所示電路使用了SMP04，用于將DAC的輸出多路復(fù)用到四個通道。（圖片來源：Analog Devices）

 

在圖中，SMP04用于復(fù)用DAC的輸出，將單個DAC輸出分成四個多路復(fù)用通道。S&H電路可用于選擇性地將DAC的輸出延遲到毛刺之后，從而使DAC的輸出變得平滑。

 

通過對復(fù)用輸入進(jìn)行流水線處理，可以使用多個S&H電路來提高ADC的吞吐量。此處，有多個S&H共同連接到多路復(fù)用器輸出。ADC連接到一個S&H，后者保持用于轉(zhuǎn)換的輸入電平。其他S&H會獲取其他多路復(fù)用器通道，然后依次連接到ADC，而第一個S&H可自由連接到另外的多路復(fù)用通道。這種流水線處理技術(shù)消除了ADC信號路徑中的S&H采樣時(shí)間。

 

許多ADC在其集成封裝中都集成了S&H或T&H電路。舉例來說，Texas Instruments的ADC121S021CIMFX就是一個具有內(nèi)置T&H的12位逐次逼近寄存器 (SAR) ADC，采樣率為每秒50至200千樣本 (kS/s)。它采用高速串行輸出總線，簡化了接線布局（圖8）。

 

圖8：Texas Instruments ADC121S021是一個具有內(nèi)置T&H電路的12位單通道SAR ADC。（圖片來源：Texas Instruments）

 

這個ADC是許多集成ADC電路的典型代表，因?yàn)樗哂袃?nèi)部T&H，從而簡化了印刷電路板的布局，且有助于最大程度地減少組件數(shù)。外部T&H電路用于特殊配置，例如用于差分輸入連接、多路復(fù)用輸入，或用在ADC不具有內(nèi)部T&H或S&H電路時(shí)。

 

總結(jié)

 

從音頻記錄到最先進(jìn)的IIoT或AI分析，將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號是最基本的電子功能，需要特別注意S&H或T&H電路。為了將模數(shù)轉(zhuǎn)換過程中的電壓偏差降至最低，這些電路至關(guān)重要，因?yàn)樗鼈冊谵D(zhuǎn)換過程中可以讓ADC的輸入電壓保持恒定。S&H可以設(shè)在ADC內(nèi)部或外部，但必須位于抗混疊低通濾波器和ADC之間的信號路徑中。如前文所述，有許多配置可以滿足各種設(shè)計(jì)應(yīng)用需要，每個IC還有單通道、差分或多通道選擇。應(yīng)用還可擴(kuò)展到包括防止因 DAC 中代碼轉(zhuǎn)換引起輸出瞬變或毛刺。