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案例分析:用結(jié)點溫度評估器件的可靠性

發(fā)布時間:2015-11-09 責任編輯:susan

【導讀】文章中的工程師在設計一款產(chǎn)品時用了一顆9A的MOS管,量產(chǎn)后發(fā)現(xiàn)壞品率偏高,經(jīng)重新計算分析后,換成了一顆5A的MOS管,問題解決。為什么用電流裕量更小的器件,卻能提高可靠性呢?
 
工程師在設計的過程中非常注意元器件性能上的裕量,卻很容易忽視熱耗散設計,案例分析我們放到最后說,為了幫助理解,我們先引入一個概念:
 
 
其中Tc為芯片的外殼溫度,PD為芯片在該環(huán)境中的耗散功率,Tj表示芯片的結(jié)點溫度,目前大多數(shù)芯片的結(jié)點溫度為150℃,Rjc表示芯片內(nèi)部至外殼的熱阻,Rcs表示外殼至散熱片的熱阻,Rsa表示散熱片到空氣的熱阻,一般功率器件用Rjc進行計算即可。
 
圖1功率器件熱阻分布示意圖
 
舉個例子來說,大家常用的S8050在25℃(Tc)的最大耗散功率是0.625W,額定電流為0.5A,最高結(jié)點溫度為150℃,此代入公式有:
 
 
從上面公式可以推算出Rja為200℃/W(Rja表示結(jié)點到空氣的熱阻)。假設芯片殼溫(Tc)為55℃,熱耗散功率有0.5W時,此刻芯片結(jié)點溫度為:Tj=Tc+PD*Rjc代入得到155℃,已經(jīng)超過了最高結(jié)溫150℃了。故需要降額使用,然而降額曲線在數(shù)據(jù)手冊中并未標注,所以小編只能自行計算。
 
在25℃(Tc)時有公式:
 
 
恒成立。
 
把線性降額因子設為F,則在任意溫度時有:
 
 
代入已知參數(shù)得到F>5mW/℃,一般為了滿足裕量要求,降額因子往往取得更大才能滿足可靠性設計要求。
 
由于小晶體管和芯片是不帶散熱器的,這時就要考慮殼體到空氣之間的熱阻。一般數(shù)據(jù)手冊會給出Rja(結(jié)到環(huán)境之間的熱阻)。那么三極管S8050,其最大功率0.625W是在其殼溫25℃時取得的。倘若環(huán)境溫度剛好為25℃,芯片自身又要消耗0.625W的功率,那么為了滿足結(jié)點不超過150℃,唯一的辦法就是讓其得到足夠好的散熱。
 
好了,我們把問題轉(zhuǎn)回到最初的場效應管為什么需要從9A變成5A性能更可靠的問題上來,場效應管的損耗通常來自導通損耗與開關損耗兩種,但在高頻小電流條件下以開關損耗為主,由于9A的場效應管在工藝上決定了其柵極電容較大,需要較強的驅(qū)動能力,在驅(qū)動能力不足的情況下導致其開關損耗急劇上升,特別在高溫情況下由于熱耗散不足,導致結(jié)點溫度超標引發(fā)失效。如果在滿足設計裕量的條件下?lián)Q成額定電流稍小的場管以后,由于兩種場管在導通內(nèi)阻上并不會差距太大,且導通損耗在高頻條件下相比開關損耗來說幾乎可以忽略不計,這樣一來5A的場管驅(qū)動起來就會變得容易很多,開關損耗降下去了,使用5A場管在同樣的溫度環(huán)境下結(jié)點溫度降低在可控范圍,自然就不會再出現(xiàn)熱耗散引起的失效了,當然遇到這種情況增強驅(qū)動能力也是一個很好的辦法。
 
圖2開關器件損耗分析示意圖
 
通常大多數(shù)芯片的結(jié)點溫度是150℃,只要把結(jié)點溫度控制在這個范圍內(nèi)并保持一定裕量,從熱耗散的設計角度來說都是沒有問題的,如果下次你找遍了芯片的器件性能指標均發(fā)現(xiàn)有一定裕量卻無法找到失效原因時,不妨從熱耗散的角度來發(fā)現(xiàn)問題,興許能幫上大忙。
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