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基于熱性能的NIS(V)3071 PCB設(shè)計考慮因素

發(fā)布時間:2024-07-18 責任編輯:lina

【導讀】單片電子保險絲(eFuse)NIS(V)3071能夠提供高達10 A 連續(xù)電流,在設(shè)計它的PCB時熱性能是重要的考量因素,在設(shè)計PCB熱特性時,需要考慮eFuse的兩種工作模式:軟開關(guān)開通階段和穩(wěn)定工作狀態(tài)。在軟開關(guān)開通階段,eFuse的短期功率耗散可達幾十瓦,而穩(wěn)定工作狀態(tài)時則可能為幾瓦。本文將通過比較四層和兩層PCB,說明使用多層PCB為器件散熱帶來的性能優(yōu)勢。


單片電子保險絲(eFuse)NIS(V)3071能夠提供高達10 A 連續(xù)電流,在設(shè)計它的PCB時熱性能是重要的考量因素,在設(shè)計PCB熱特性時,需要考慮eFuse的兩種工作模式:軟開關(guān)開通階段和穩(wěn)定工作狀態(tài)。在軟開關(guān)開通階段,eFuse的短期功率耗散可達幾十瓦,而穩(wěn)定工作狀態(tài)時則可能為幾瓦。本文將通過比較四層和兩層PCB,說明使用多層PCB為器件散熱帶來的性能優(yōu)勢。


圖1 顯示的是兩層PCB,圖2 顯示的是面積同樣為2000 平方毫米的四層PCB。


基于熱性能的NIS(V)3071 PCB設(shè)計考慮因素


以下對兩種PCB在相同條件下的熱參數(shù)進行比較。FAULT引腳上ESD結(jié)構(gòu)的線性溫度曲線用于測量結(jié)溫。該器件在輸入電壓Vin = 12 V且無負載的情況下驅(qū)動芯片,在此電壓下,以1mA的電流對兩個測試板上的ESD結(jié)構(gòu)進行溫度特性分析,并使用Temptronic X-Stream 4300對溫度進行掃描。此溫度特性分析的電路原理圖如圖3所示:溫度特性測試配置。


基于熱性能的NIS(V)3071 PCB設(shè)計考慮因素



在30°C 至150°C 的溫度范圍內(nèi),ESD結(jié)構(gòu)的兩塊測試板上的電壓如圖4 所示:熱性能分析。


基于熱性能的NIS(V)3071 PCB設(shè)計考慮因素


在供電電壓Vin = 12 V的情況下,設(shè)定所有四個并聯(lián)通道的輸出電流,使兩塊測試eFuse PCB上的功耗都正好為1 W。


表1 顯示了在相同電流(1 mA)下,兩塊被測PCB上FAULT 引腳基于ESD 結(jié)構(gòu)的電壓。根據(jù)這些電壓,按照圖4 所示公式可計算出每塊電路板上的結(jié)溫。測量是在環(huán)境溫度為Ta = 23°C的自然空氣對流條件下進行的。兩層和四層PCB的結(jié)至環(huán)境熱阻(Rthja)值由下式給出。

Rthja = (Tj ? Ta)/Pd [°C/W]


基于熱性能的NIS(V)3071 PCB設(shè)計考慮因素


圖5.熱像儀顯示了作為對比的兩個PCB的溫度分布。相比于相同面積的兩層PCB,四層PCB具有低12°C/W的熱阻。結(jié)溫Tj也可以通過Rdson的變化來計算,但在大約6A的輸出電流下,自熱效應使得這種相關(guān)性的表征變得復雜,并且Rdson隨溫度以及輸出電流的變化并非線性。


基于熱性能的NIS(V)3071 PCB設(shè)計考慮因素


附錄中是上述兩種PCB的完整說明和堆疊圖。


焊接指南

焊接NIV3071 器件時,我們建議遵循IPC-7527標準和焊接指南。在某些需要剛性多層PCB的應用中,建議使用高可靠性焊膏。高可靠性焊膏將有助于確保焊點在板級可靠性溫度循環(huán)測試期間的機械完整性。


附錄


基于熱性能的NIS(V)3071 PCB設(shè)計考慮因素


基于熱性能的NIS(V)3071 PCB設(shè)計考慮因素

圖6. 雙層PCB設(shè)計


基于熱性能的NIS(V)3071 PCB設(shè)計考慮因素


基于熱性能的NIS(V)3071 PCB設(shè)計考慮因素

圖7. 四層PCB設(shè)計

文章來源:安森美

 

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