你的位置:首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 正文

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全

發(fā)布時(shí)間:2021-10-17 來(lái)源:Dan Harmon 責(zé)任編輯:wenwei

【導(dǎo)讀】隨著功能安全要求日益受到重視,改進(jìn)系統(tǒng)診斷功能勢(shì)在必行。其中,電流測(cè)量便是診斷評(píng)估的一項(xiàng)重要內(nèi)容。要確定設(shè)計(jì)的測(cè)量精度,務(wù)必要了解誤差源。

 

正如之前在信號(hào)鏈基礎(chǔ)知識(shí) #141中所述,了解如何解讀數(shù)據(jù)表對(duì)于計(jì)算高側(cè)電流測(cè)量的精度非常重要。此外,了解外部元件的影響對(duì)于獲得正確的電流測(cè)量結(jié)果也至關(guān)重要。

 

高側(cè)電流檢測(cè)實(shí)現(xiàn)

 

在高側(cè)配置中,有兩種常用的電流測(cè)量方法:

 

●     使用差分運(yùn)算放大器,如圖1所示。

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全

圖1 用于高側(cè)電流測(cè)量的運(yùn)算放大器電路

 

使用電流檢測(cè)放大器,如圖2所示。

 

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全

圖2 用于高側(cè)電流測(cè)量的電流檢測(cè)放大器電路

 

這兩種方法具有一些根本的區(qū)別,主要體現(xiàn)在電流檢測(cè)放大器集成了增益電阻器網(wǎng)絡(luò),而運(yùn)算放大器則使用外部分立式電阻器作為其增益網(wǎng)絡(luò)。無(wú)論您使用哪種方案,基本系統(tǒng)傳遞函數(shù)都適用,如公式1所示:

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全   公式1

 

其中

 

●     y是輸出電壓 (VOUT)。

●     m 是系統(tǒng)增益,對(duì)于此系統(tǒng)為RSHUNT×G。G是為大多數(shù)電流檢測(cè)放大器預(yù)定義的,而對(duì)于運(yùn)算放大器,則為RF/RI。

●     x是輸入電流(I)。

●     b 是系統(tǒng)的失調(diào)電壓。如果系統(tǒng)測(cè)量雙向電流,當(dāng)輸入電流為零時(shí),b 是輸出電壓。如果單向測(cè)量,b 在0A下的理想電壓為0V,但它可能會(huì)受到放大器輸出擺幅規(guī)格的限制。對(duì)于運(yùn)算放大器和電流檢測(cè)放大器,VOFFSET 通常是以輸入為參考規(guī)格。因此,b 實(shí)際上還需要考慮系統(tǒng)的增益。

 

電流測(cè)量的傳遞方程可改寫(xiě)為公式2:

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全   公式2

 

基于此基本傳遞函數(shù),有兩種誤差類(lèi)型:增益和失調(diào)電壓。

 

增益誤差

 

系統(tǒng)增益誤差有兩個(gè)主要來(lái)源:分流電阻器和放大器增益。分流電阻器誤差對(duì)于運(yùn)算放大器或電流檢測(cè)放大器是常見(jiàn)的,通過(guò)查看電阻器規(guī)格表很容易確定,而放大器的增益誤差則取決于選擇的放大器方案。

 

對(duì)于差分運(yùn)算放大器方案,如前所述,增益是兩個(gè)電阻器的比率,即RF/RI。要計(jì)算誤差,需查看電阻器的數(shù)據(jù)表。典型分立增益網(wǎng)絡(luò)電阻器的容差為0.5%、100ppm/°C。要計(jì)算此比率的最大誤差,需假設(shè)一個(gè)電阻處于最大值,而另一個(gè)電阻處于最小值。這會(huì)在室溫下產(chǎn)生1%的誤差,并且由于假設(shè)會(huì)發(fā)生反向漂移,因此在125°C下為3%。

 

對(duì)于電流檢測(cè)放大器,增益誤差通常列在數(shù)據(jù)表中。圖3 顯示了德州儀器(TI)INA186-Q1的增益誤差??梢钥吹?,室溫下的增益誤差為1.0%。溫漂為10ppm/°C時(shí),125°C下的增益誤差為1.1%。

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全

圖3 INA186-Q1增益誤差和增益誤差漂移規(guī)格數(shù)據(jù)表

 

這是TI電流檢測(cè)放大器的一個(gè)主要優(yōu)勢(shì):精度匹配的集成增益網(wǎng)絡(luò)可更大限度地減少溫漂效應(yīng)。對(duì)于運(yùn)算放大器電路,您可以使用精度匹配的電阻器網(wǎng)絡(luò),但它們會(huì)顯著提高方案成本。

 

偏移誤差

 

如上所述,輸出失調(diào)電壓必須包括增益。由于失調(diào)電壓通常指定為以輸入為參考,因此公式3按如下所示計(jì)算失調(diào)電壓誤差:

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全   公式3

 

從公式3中可以看出,當(dāng)VSHUNT (IxRSHUNT) 接近失調(diào)電壓值時(shí),失調(diào)電壓誤差很重要,并且隨著電流變?yōu)?,失調(diào)電壓誤差將接近無(wú)窮大。相反,如果VSHUNT >>VTOTAL OFFSET,那么此誤差項(xiàng)將接近0。

 

總輸入?yún)⒖际д{(diào)電壓具有三個(gè)主要組成部分:

 

放大器VOFFSET 規(guī)格和漂移。

 

共模抑制比(CMRR)。

 

電源抑制比(PSRR)。

 

由于放大器的VOFFSET 通常在固定共模電壓和電源電壓下指定,因此CMRR和PSRR也是造成失調(diào)電壓誤差的因素。圖4 顯示了INA186-Q1的固定值,圖5顯示了常用運(yùn)算放大器TI TLV2186的固定值。

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全

圖4 INA186-Q1在固定共模電壓和電源電壓規(guī)格下的CMRR和PSRR數(shù)據(jù)表

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全

圖5 TLV2186在固定共模電壓和電源電壓規(guī)格下的CMRR和PSRR數(shù)據(jù)表

 

正如信號(hào)鏈基礎(chǔ)知識(shí) #141 中所述,數(shù)據(jù)表中電流檢測(cè)放大器的VOFFSET 指定方式與運(yùn)算放大器不同。具體而言,電流檢測(cè)放大器失調(diào)電壓包括集成電阻器網(wǎng)絡(luò)的影響,而運(yùn)算放大器VOFFSET 僅適用于器件。運(yùn)算放大器方案中的總失調(diào)電壓需要將外部電阻器的影響考慮在內(nèi)。

 

由于電流從共模電壓流經(jīng)外部電阻器,因此可將外部電阻器視為導(dǎo)致共模抑制誤差的原因。假設(shè)所有四個(gè)增益電阻器具有相同的容差,根據(jù)公式4,電路的增益和電阻器的容差將確定“電阻器CMRR”:

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全   公式4

 

圖6 所示為不同增益和電阻器容差下計(jì)算出的電阻器CMRR(以分貝為單位),您可從中看到不同增益和電阻器容差所產(chǎn)生的影響。

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全

圖6 在三種不同增益配置、不同電阻容差下計(jì)算出的CMRR值

 

對(duì)于電流檢測(cè)放大器,只需將CMRR和PSRR的影響添加到器件的失調(diào)電壓規(guī)格中,即可計(jì)算出總輸入失調(diào)電壓。通常會(huì)在整個(gè)溫度范圍內(nèi)指定CMRR和PSRR;因此,任何漂移影響都已考慮在內(nèi)。但是,計(jì)算不同溫度下的誤差時(shí)必須考慮溫漂。

 

總誤差

 

理論上,最壞情況下的總誤差只是各個(gè)誤差項(xiàng)的總和。從統(tǒng)計(jì)學(xué)角度講,所有誤差同時(shí)發(fā)生的這種情況不太可能發(fā)生。因此,使用平方和根方法(公式5)計(jì)算一階總誤差:

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全   公式5

 

圖7列出了使用INA186-Q1和TLV2186且增益為20時(shí)的關(guān)鍵性能指標(biāo)。

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全

圖7 使用INA186-Q1或TLV2186實(shí)現(xiàn)高側(cè)電流測(cè)量應(yīng)用的關(guān)鍵性能指標(biāo)

 

圖8展示了兩種方案使用10mΩ、0.5%、50ppm/°C RSHUNT 分別在室溫和125°C 時(shí)用公式5計(jì)算得出的以下誤差曲線(xiàn)。

 

如何計(jì)算電流測(cè)量精度以提高功能安全

圖8 高側(cè)電流測(cè)量方案結(jié)合使用INA186-Q1或TLV2186以及10mΩ、0.5%、50ppm/°C RSHUNT 時(shí)的平方和根誤差曲線(xiàn)

 

從圖7和圖8中可以看出,外部增益電阻器是分立式方案的主要誤差源,在溫度變化時(shí)尤為明顯。校準(zhǔn)可以更大限度地降低室溫下的失調(diào)電壓誤差,但溫漂不容易校準(zhǔn)。

 

總結(jié)

 

通過(guò)增加可實(shí)現(xiàn)的設(shè)計(jì)裕度,提高電流檢測(cè)方案的精度可以提高系統(tǒng)的診斷能力。但與任何電子系統(tǒng)一樣,提高精度通常需要增加系統(tǒng)成本。通過(guò)了解不同工作條件下的誤差源及其影響,您能夠在成本和精度之間做出適當(dāng)?shù)臋?quán)衡。

 

參考文獻(xiàn)

 

●     下載 INA186-Q1 數(shù)據(jù)表。

●     下載 TLV2186數(shù)據(jù)表。

 

關(guān)于作者

 

Dan Harmon是TI電流和位置檢測(cè)產(chǎn)品線(xiàn)的汽車(chē)營(yíng)銷(xiāo)經(jīng)理。在他33多年的職業(yè)生涯中,他曾為多種技術(shù)和產(chǎn)品提供支持,包括接口產(chǎn)品、成像模擬前端和電荷耦合器件傳感器。他還擔(dān)任過(guò)TI USB Implementers Forum代表和TI USB 3.0 Promoter’s Group主席。Dan擁有戴頓大學(xué)電氣工程學(xué)士學(xué)位,以及德克薩斯大學(xué)阿靈頓分校電氣工程碩士學(xué)位。

 

關(guān)于德州儀器(TI)

 

德州儀器(TI)(納斯達(dá)克股票代碼:TXN)是一家全球化的半導(dǎo)體公司,致力于設(shè)計(jì)、制造、測(cè)試和銷(xiāo)售模擬和嵌入式處理芯片,用于工業(yè)、汽車(chē)、個(gè)人電子產(chǎn)品、通信設(shè)備和企業(yè)系統(tǒng)等市場(chǎng)。我們致力于通過(guò)半導(dǎo)體技術(shù)讓電子產(chǎn)品更經(jīng)濟(jì)實(shí)用,創(chuàng)造一個(gè)更美好的世界。如今,每一代創(chuàng)新都建立在上一代創(chuàng)新的基礎(chǔ)之上,使我們的技術(shù)變得更小巧、更快速、更可靠、更實(shí)惠,從而實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體在電子產(chǎn)品領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,這就是工程的進(jìn)步。這正是我們數(shù)十年來(lái)乃至現(xiàn)在一直在做的事。 欲了解更多信息,請(qǐng)?jiān)L問(wèn)公司網(wǎng)站www.ti.com.cn。

 

 

免責(zé)聲明:本文為轉(zhuǎn)載文章,轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系小編進(jìn)行處理。

 

推薦閱讀:


連接器日常使用維護(hù)避雷指南

X-FAB與派恩杰達(dá)成長(zhǎng)期戰(zhàn)略合作,共同推動(dòng)全球SiC產(chǎn)業(yè)發(fā)展

仿真看世界之SiC MOSFET單管的并聯(lián)均流特性

專(zhuān)家支招:如何解決在工業(yè)應(yīng)用中實(shí)施視覺(jué)系統(tǒng)的挑戰(zhàn)?

使用氮化鎵IC對(duì)離線(xiàn)式電源的大電容進(jìn)行優(yōu)化

特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書(shū)下載更多>>
熱門(mén)搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉